數(shù)字采樣綜合孔徑微波輻射計ADC誤差分析.pdf

1、隨著天線單元數(shù)目的增加，綜合孔徑微波輻射計進行信號處理所需器件的數(shù)量會成指數(shù)增長，這必然導(dǎo)致整個系統(tǒng)復(fù)雜度極大的增加。為了解決模擬系統(tǒng)中的這一問題，研究人員開始采用數(shù)字采樣綜合孔徑微波輻射計，將系統(tǒng)的硬件復(fù)雜度轉(zhuǎn)變?yōu)樾盘柼幚淼膹?fù)雜度。
　　 ADC是模擬信號數(shù)字化的關(guān)鍵器件，在其轉(zhuǎn)換過程中會存在誤差，這些誤差會造成系統(tǒng)靈敏度的損失以及成像結(jié)果的偏差，因此研究這些誤差對系統(tǒng)性能的影響成為一個非常有意義的課題。
　　 論文首

2、先全面介紹了數(shù)字采樣綜合孔徑微波輻射計中ADC的發(fā)展和研究現(xiàn)狀，并建立了ADC的誤差模型。在此基礎(chǔ)上詳細分析了存在量化誤差時的可見度函數(shù)，推導(dǎo)出量化位數(shù)、ADC 量程和系統(tǒng)靈敏度之間的關(guān)系，同時研究了量化位數(shù)對系統(tǒng)復(fù)雜度的影響，分析表明4 比特量化是系統(tǒng)靈敏度與復(fù)雜度之間一個比較好的折中。
　　 最后，針對數(shù)字采樣綜合孔徑微波輻射計中ADC 非線性誤差進行分析。首先分析存在微分非線性時的系統(tǒng)靈敏度，研究表明4 比特以下量化時，微