綜合孔徑微波輻射計(jì)均勻圓環(huán)陣反演方法研究.pdf

1、微波輻射計(jì)使用孔徑綜合技術(shù)利用天線陣列來(lái)觀測(cè)目標(biāo)輻射特性，降低了硬件成本，提高了空間分辨率。目前最常用的“Y”型陣存在較多的冗余基線，增加了硬件復(fù)雜度。圓環(huán)陣能夠降低基線冗余度，然而其空間頻域采樣點(diǎn)呈非均勻分布，不能使用快速傅里葉變換反演算法進(jìn)行圖像反演，需要適當(dāng)?shù)木W(wǎng)格轉(zhuǎn)換。一般的非均勻快速傅里葉變換反演法插值誤差和計(jì)算量較大、成像質(zhì)量和成像時(shí)間需要平衡，本文采用偽極坐標(biāo)反演法來(lái)解決這些問(wèn)題。本文主要針對(duì)均勻圓環(huán)陣，重點(diǎn)研究綜合孔徑微波

2、輻射計(jì)均勻圓環(huán)陣偽極坐標(biāo)反演算法。
　　本文介紹了輻射計(jì)和反演算法的研究現(xiàn)狀，指出了綜合孔徑微波輻射計(jì)圓環(huán)陣反演算法研究存在的問(wèn)題和不足。從點(diǎn)源和展源這兩個(gè)方面討論了綜合孔徑輻射計(jì)測(cè)量原理，建立圖像反演數(shù)學(xué)模型，研究了天線陣列設(shè)計(jì)中需要考慮的空間分辨率和無(wú)混疊視場(chǎng)等問(wèn)題并介紹了幾種重要的反演算法。針對(duì)圓環(huán)陣的特點(diǎn)，為了提高成像的質(zhì)量，討論了非均勻快速傅里葉變換反演法和偽極坐標(biāo)反演法，指出了偽極坐標(biāo)反演法用于均勻圓環(huán)陣的優(yōu)勢(shì)。最后，