綜合孔徑微波輻射計通道陣列誤差研究.pdf

1、綜合孔徑微波輻射計起源于射電天文，近幾年來它已應用到探測領域，同時對系統(tǒng)的性能提出了更高的要求。但由于系統(tǒng)誤差的存在會引起干涉測量結(jié)果的改變，從而使反演成像質(zhì)量變差。儀器誤差是系統(tǒng)誤差的主要來源，它主要有三部分：天線誤差、接收通道誤差和高速數(shù)字信號處理器誤差，本論文主要針對儀器非理想特性導致的接收通道誤差對可見度函數(shù)和反演亮溫的影響作了具體分析、仿真設計、實現(xiàn)以及其它相關的研究工作。
　　 本文首先對引起通道誤差的各誤差源進行了

2、詳細闡述，針對這些通道誤差，分析了它們對可見度函數(shù)的影響。理論分析表明：各種通道誤差對可見度的影響表現(xiàn)為通道誤差等效的可見度單獨幅度與相位附加項，通道間的串擾還將使當前測量的可見度疊加上其它可見度的貢獻。在此基礎上分析了可見度幅度和相位附加項對反演亮溫的影響。
　　 為了分析各種通道誤差對反演亮溫的影響，本文設計了一維綜合孔徑微波輻射計理想通道仿真系統(tǒng)，同時給出通道誤差引入方案。給定兩種觀測場景，通過仿真得到各種通道誤差服從均勻