納米級CMOS逐次逼近A-D轉(zhuǎn)換器設計研究與實現(xiàn).pdf

1、作為片上系統(tǒng)(SoC:System—on-Chip)的一種重要模塊單元,A/D轉(zhuǎn)換器(ADC:Analog-to-Digital Converter)的應用日益廣泛。集成電路工藝尺寸的不斷減小在推動數(shù)字電路迅速發(fā)展的同時增加了高性能模擬電路的設計難度,A/D轉(zhuǎn)換器作為典型的數(shù)?；旌闲盘栯娐?在納米級CMOS工藝下既面臨著機會也面臨著挑戰(zhàn)。作為應用最為廣泛的一種ADC類型,逐次逼近(SAR:Successive Approximation

2、Register)A/D轉(zhuǎn)換器所含模擬電路較少,具有結構簡單、功耗低、易集成等優(yōu)點,在納米級CMOS工藝下有很好的發(fā)展前景。
　　 基于多種SAR ADC結構類型,采用理論分析推導結合Matlab建模驗證的方式,對SAR ADC D/A轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡無源元件匹配性以及能耗進行了研究。詳細分析和討論了SAR ADC中比較器、開關以及電壓基準的設計技術。在以上研究的基礎上,基于納米級CMOS工藝設計實現(xiàn)了兩種SAR A/D轉(zhuǎn)換器。

3、　　 基于SMIC65nm CMOS低漏電工藝設計實現(xiàn)了一種8通道12-bit200kS/s觸摸屏SAR A/D轉(zhuǎn)換器。提出了一種新型R-C混合式D/A轉(zhuǎn)換結構,通過一種二進制比例的電容對實現(xiàn)了電阻梯的復用,減小了轉(zhuǎn)換器的面積,整個ADC的面積小于0.13mm2。提出了一種與SAR ADC工作原理完全兼容并且不增加任何額外時序邏輯的新型失調(diào)消除技術,有效減小了偽差分比較器的失調(diào)電壓。提出了一種結合雙端分段非線性補償、對數(shù)項消除技術以及

4、混合模式拓撲輸出的新型溫度補償技術,提高了ADC內(nèi)部電壓基準源的溫度穩(wěn)定性。測試結果顯示,12-bitSAR ADC具有70.13dB的信噪失真比(SNDR:Signal to Noise and DistortionRatio),失調(diào)誤差為1.28LSB,功耗僅為2.8mw,滿足觸摸屏SoC的應用要求。
　　 基于SMIC90nm CMOS Logic工藝設計實現(xiàn)了一種8通道10-bit SAR A/D轉(zhuǎn)換器。提出了一種能夠用

5、于高速低功耗系統(tǒng)的新型電平轉(zhuǎn)換器,和傳統(tǒng)結構相比,在速度和功耗方面都得到了顯著優(yōu)化。通過采用該新型電平轉(zhuǎn)換器,并對內(nèi)部R-C混合式D/A轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡以及低失調(diào)偽差分比較器進行速度優(yōu)化,該轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)了2.5MS/s的采樣速率。整個ADC的面積為0.051mm2。在3.3V模擬電壓和1.0V數(shù)字電壓下,當輸入為100kHz,3.0V峰.峰值的正弦信號時,該10-bit ADC具有9.41-bits有效位(ENOB:Effective Numbe