高性能逐次逼近型A-D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計.pdf

1、數(shù)字信號處理技術(shù)在高分辨率圖象、視頻處理及無線通信等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,導(dǎo)致對高速、高精度、基于標準CMOS工藝的可嵌入式ADC的需求量與日俱增。由于逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SARADC)能夠適應(yīng)多種模擬輸入方式,在開關(guān)、多通道應(yīng)用中能保證零數(shù)據(jù)延遲,而且速度、精度適中,功耗、成本低,因此,在工業(yè)測控儀器、醫(yī)療成像設(shè)備、安防安檢系統(tǒng)中都有著廣泛的運用。 本文提供了一種基于二進制加權(quán)電容陣列DAC的數(shù)字校準算法,將校準誤差在芯片測試時測

2、出并燒寫到存儲陣列中,并在ADC應(yīng)用時將存儲設(shè)備中的數(shù)據(jù)讀出對應(yīng)加載到電容陣列中,實現(xiàn)對DAC的校準；同時采用了高效的比較器消失調(diào)技術(shù),大大提高了ADC的精度；而多級比較器加復(fù)位開關(guān)的結(jié)構(gòu)大大改善了比較器的速度,從而提高了ADC的速度；電容陣列DAC的設(shè)計滿足了ADC低功耗、低噪聲的需求。 本次課題是與北京地太科特電子技術(shù)有限公司合作完成的研發(fā)項目,以設(shè)計開發(fā)高性能18位ADC產(chǎn)品為目標,應(yīng)用于醫(yī)療安檢成像系統(tǒng)中,預(yù)期采樣率達到