電子控制器電磁兼容性仿真分析研究.pdf

1、隨著電子設(shè)備內(nèi)部電子元器件密度以及其工作頻率的不斷提高，電磁兼容已成為影響電子設(shè)備能否正常工作的重要因素。本文以某電子控制器為研究目標(biāo)，對(duì)其進(jìn)行電磁兼容性仿真分析研究。通過(guò)仿真的手段，對(duì)電子控制器的電磁兼容性進(jìn)行分析研究，可以在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)潛在的電磁干擾問(wèn)題，縮短設(shè)備的研發(fā)周期，減少資金投入，使產(chǎn)品盡早推向市場(chǎng)，更具有競(jìng)爭(zhēng)力。
　　機(jī)箱屏蔽效能的好壞將直接影響電磁兼容性測(cè)試結(jié)果，論文首先在了解電磁屏蔽理論的基礎(chǔ)之上，研究了機(jī)箱仿真

2、的建模方法，并對(duì)電子控制器機(jī)箱進(jìn)行了屏蔽效能仿真分析。其次，分別從機(jī)箱材料、平面波入射角度、孔洞形式、縫隙形式以及導(dǎo)電襯墊種類等角度，研究了以上因素對(duì)機(jī)箱屏蔽效能的影響，通過(guò)對(duì)仿真結(jié)果的比較分析，得到提高機(jī)箱屏蔽效能的措施。
　　最后，根據(jù)電磁兼容性測(cè)試的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)電子控制器傳導(dǎo)發(fā)射(CE102)測(cè)試和電場(chǎng)輻射發(fā)射(RE102)測(cè)試分別進(jìn)行仿真，將仿真結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限制值進(jìn)行比較，得到系統(tǒng)超標(biāo)的幅值和頻段，為后續(xù)的整改提供依據(jù)