TDR差分測(cè)量方法與多點(diǎn)校準(zhǔn)技術(shù)研究與軟件實(shí)現(xiàn).pdf

1、TDR特性阻抗測(cè)試儀是一款利用時(shí)域反射法測(cè)量阻抗不連續(xù)點(diǎn)處特性阻抗的儀器,適用于電路板制造商對(duì)PCB跡線進(jìn)行出廠前質(zhì)量檢驗(yàn)。目前項(xiàng)目組自主研發(fā)成功了Asida系列特性阻抗測(cè)試儀器,但是在核心的校準(zhǔn)與測(cè)量技術(shù)上面還不夠完善,需要進(jìn)一步的優(yōu)化,來(lái)提高整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)量精度。本論文以提高特性阻抗測(cè)試儀的精度為目標(biāo),主要工作內(nèi)容有以下幾方面:
　　首先,根據(jù)時(shí)域反射計(jì)(TDR)的基本原理和儀器需要實(shí)現(xiàn)的功能,制定 TDR特性阻抗測(cè)試儀的總體方

2、案,并根據(jù)總體方案利用面向?qū)ο蠼y(tǒng)一建模語(yǔ)言UML進(jìn)行軟件需求分析建模和軟件設(shè)計(jì)分析建模;第二,分析對(duì)比目前業(yè)界的差分測(cè)量算法,根據(jù)自身硬件條件選擇了對(duì)硬件要求較低,只需單脈沖源和單取樣頭,但對(duì)軟件算法要求較高的等效偽差分測(cè)試算法,這種差分測(cè)試方法不僅降低了開(kāi)發(fā)成本,并且測(cè)量結(jié)果也在允許的誤差范圍內(nèi);第三,提出了一種改進(jìn)的校準(zhǔn)方法,將傳統(tǒng)的兩點(diǎn)校準(zhǔn)改進(jìn)為多點(diǎn)校準(zhǔn),測(cè)量誤差比傳統(tǒng)方法降低了2％,傳統(tǒng)方法的誤差為5％,并將改進(jìn)的校準(zhǔn)方法和等效

3、偽差分測(cè)量算法在特性阻抗測(cè)試儀中實(shí)現(xiàn);第四,重新設(shè)計(jì)了特性阻抗測(cè)試儀的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊,采用了數(shù)據(jù)庫(kù)管理方案彌補(bǔ)了文檔管理方式的缺陷,為項(xiàng)目的進(jìn)一步發(fā)展提供了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間保證;最后,總結(jié)了影響特性阻抗測(cè)量精度的幾個(gè)因素,并給出了解決方案,確保整個(gè)系統(tǒng)能夠提供更精確的測(cè)量服務(wù)。
　　本文的校準(zhǔn)與測(cè)試算法以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法均是在VC++平臺(tái)上實(shí)現(xiàn),并根據(jù)項(xiàng)目需要實(shí)現(xiàn)的目標(biāo),聯(lián)合硬件平臺(tái)進(jìn)行聯(lián)調(diào)測(cè)試。經(jīng)過(guò)大量的實(shí)際測(cè)量實(shí)驗(yàn),將本文結(jié)果與泰克、