高密度電路板電磁頻譜異常頻率點(diǎn)識別方法研究.pdf

1、隨著電路技術(shù)進(jìn)入微型封裝、大規(guī)模集成、高密度組裝時代，板級電路的高密度復(fù)雜性以及多層性，使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問性逐步削弱，電路和系統(tǒng)的可測試性急劇下降，測試開銷在板級電子電路總開銷中所占的比例不斷攀升，常規(guī)測試方法面臨著日益嚴(yán)重的測試?yán)щy。一種新的應(yīng)用電磁掃描技術(shù)對高密度電子電路故障檢測的方法正在興起，其中異常頻率點(diǎn)的識別是該檢測方法的首要問題和關(guān)鍵技術(shù)。
　　本文首先詳細(xì)研究了檢測過程中電路板電磁掃描頻譜圖的特征，并針對電路板

2、電磁掃描頻譜圖中頻譜曲線的顏色與背景顏色區(qū)分比較明顯這一特征，設(shè)計了利用量化的HSI顏色模型提取頻譜曲線的方法；接著根據(jù)頻譜圖中頻譜曲線的用途及其連續(xù)性特征，提出了基于右向多鏈碼的頻譜曲線有效離散點(diǎn)的表示方法，得到標(biāo)準(zhǔn)板與待測板頻譜曲線有效離散點(diǎn)的鏈碼串；然后求取標(biāo)準(zhǔn)板與待測板頻譜曲線有效離散點(diǎn)的差值，得到頻譜差值曲線有效離散點(diǎn)，并利用該有效離散點(diǎn)生成連續(xù)的頻譜差值曲線；最后運(yùn)用小生境遺傳算法，并結(jié)合高密度電子電路板電磁掃描頻譜圖的特點(diǎn)