基于電磁掃描的高密度電路板故障器件檢測(cè)技術(shù).pdf

1、高密度電路板所具有的密度高、頻率高、可靠性要求高等特性，使其組裝難度增大，導(dǎo)致組裝質(zhì)量下降，傳統(tǒng)的檢測(cè)方法已經(jīng)不能適應(yīng)高密度電路板組裝質(zhì)量的檢測(cè)要求。本文利用電磁掃描技術(shù)檢測(cè)高密度電路板，其中關(guān)鍵問(wèn)題是高密度電路板異常區(qū)域的檢測(cè)和疑似故障器件的判定，此問(wèn)題的研究不僅具有重要的研究意義，而且具有很大的實(shí)用價(jià)值。
　　本文設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了用電磁掃描技術(shù)檢測(cè)高密度電路板的方法。本文詳細(xì)研究了高密度電路板異常區(qū)域的檢測(cè)方法，提出了基于顏色特征

2、的圖像提取算法，并利用該算法對(duì)空間云圖進(jìn)行有效區(qū)域提取，得到有效云圖；改進(jìn)了差影法，并利用改進(jìn)的差影法對(duì)標(biāo)準(zhǔn)板和待測(cè)板的有效云圖進(jìn)行對(duì)比，得到云圖差圖；利用閾值法和RGB顏色模型確定待測(cè)高密度電路板的異常區(qū)域；利用OpenCV技術(shù)，對(duì)異常區(qū)域進(jìn)行處理，得到異常區(qū)域位置坐標(biāo)，為后續(xù)疑似故障器件判定提供了數(shù)據(jù)；對(duì)電路板元器件進(jìn)行了建模處理，設(shè)計(jì)了疑似故障器件的判定算法，最終完成了疑似故障器件的判定。
　　理論分析和實(shí)驗(yàn)證明，將電磁掃描