集成電路測試儀控制電路與分選系統(tǒng)接口技術研究.pdf

1、隨著集成電路技術和集成電路測試技術的飛速發(fā)展,集成電路的分選技術也緊隨其后,得到了飛快的發(fā)展。隨著集成電路測試技術的發(fā)展,現(xiàn)在的分選系統(tǒng)有了極大的提高,現(xiàn)在的分選系統(tǒng)主要是采用自動分選系統(tǒng),即不用手工來分類。本課題所研究的是集成電路測試儀控制電路與分選系統(tǒng)接口,通過這個接口能夠確保集成電路測試儀與分選系統(tǒng)之間正確的通信。通過集成電路測試儀控制電路與分選系統(tǒng)的接口,可以解讀由測試儀和分選系統(tǒng)發(fā)出來的信息,并根據此信息來產生相應的邏輯信號作

2、為狀態(tài)信號發(fā)送給測試儀和分選系統(tǒng)。以實現(xiàn)對BIN的分類、多站點的控制,及延時的控制等。通俗地說就是對分選系統(tǒng)和測試系統(tǒng)所發(fā)出的信號,加以解讀,產生相應的TTL信號,和準確的延時,從而確保測試系統(tǒng)和分選系統(tǒng)之間的正確通信。集成電路測試儀通過其接口控制電路,能夠同時對兩臺分選機進行控制,即能夠同時對兩個PHI接口(集成電路測試儀與分選系統(tǒng)的接口)、四個站點進行控制測量。這樣的搭配方式極其靈活,既可以選擇單站點,又可以選擇多站點以及串行、并行

3、等不同的方式來搭配測量,極大合理的利用了測試資源。自動分選系統(tǒng)能夠對測試完的集成電路進行錯誤分類(BIN),并且針對測試完的集成電路有自動下料機構和手動下料機構,我們既可以選擇自動下料機構下料,又可以手動下料,極大的提高了集成電路分類的準確性和下料的靈活性。本課題所研究的監(jiān)控系統(tǒng)又可以對系統(tǒng)中其他各路的電源進行監(jiān)控,這樣就確保了各路電源的工作正確性,為其他電路的工作減輕了后顧之憂。而繼電器矩陣模塊又能對繼電器矩陣進行控制,在不同的控制方