畢業(yè)論文---數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試儀研制和設(shè)計(jì)

1、<p>　　數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試儀研制和設(shè)計(jì)</p><p><b>　　緒論</b></p><p>　　1.1 該課題的研究意義</p><p>　　在高校的教學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市場(chǎng)上存在一種可以對(duì)TTL、CMOS數(shù)字芯片進(jìn)行檢測(cè)的工程應(yīng)用型測(cè)試儀，但是考慮到其價(jià)格較貴，較難滿足學(xué)生人手一臺(tái)

2、。因此，從節(jié)約經(jīng)費(fèi)、提高利用率的角度出發(fā)，我們采用AT89S52單片機(jī)設(shè)計(jì)了集成芯片測(cè)試系統(tǒng)。</p><p>　　1.2 該課題有關(guān)的國(guó)內(nèi)外研究概況和發(fā)展趨勢(shì)。</p><p>　　集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一。因此，集成電路測(cè)試儀（或測(cè)試系統(tǒng)，下同）作為一個(gè)測(cè)試門類受到很多國(guó)家的高度重視。40年來(lái)，隨著集成電路

3、發(fā)展到第四代，集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測(cè)試儀進(jìn)入全盛時(shí)期。</p><p>　　集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過程可以粗略地分為四個(gè)時(shí)代。</p><p>　　第一代始于1965年，測(cè)試對(duì)象是小規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)達(dá)16只。用導(dǎo)線連接、撥動(dòng)開關(guān)、按鈕插件、數(shù)字開關(guān)或二極管矩陣等方法，編制自動(dòng)測(cè)試序列，僅僅測(cè)

4、量IC外部管腳的直流參數(shù)。</p><p>　　第二代始于1969年，此時(shí)計(jì)算機(jī)的發(fā)展已達(dá)到適用于控制測(cè)試儀的程度，測(cè)試對(duì)象擴(kuò)展到中規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)24個(gè)，不但能測(cè)試IC的直流參數(shù)，還可用低速圖形測(cè)試IC的邏輯功能。這是一個(gè)飛躍。</p><p>　　第三代始于1972年，這時(shí)的測(cè)量對(duì)象擴(kuò)展到大規(guī)模集成電路（LSI），可測(cè)管腳數(shù)達(dá)60個(gè)，最突出的進(jìn)步是把功能測(cè)試圖形速率提高到10M

5、Hz。從1975年開始，測(cè)試對(duì)象為大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路（LSI/VLSI），可測(cè)管腳劇增到128個(gè)，功能測(cè)試圖形速率提高到20MHz。不但能有效地測(cè)量CMOS電路，也能有效地測(cè)量TTL、ECL電路。此時(shí)作為獨(dú)立發(fā)展的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，無(wú)論其軟件、硬件都相當(dāng)成熟。</p><p>　　1980年測(cè)試儀進(jìn)入第四代，測(cè)量對(duì)象為VLSI，可測(cè)管腳數(shù)高達(dá)256個(gè)，功能測(cè)試圖形速率高達(dá)100MHz，測(cè)試圖形深度可達(dá)25

6、6K以上。測(cè)試儀的智能化水平進(jìn)一步提高，具備與計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）連接能力，利用自動(dòng)生成測(cè)試圖形向量，并加強(qiáng)了數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的融合。有些系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了與激光修調(diào)設(shè)備連機(jī)工作，對(duì)存儲(chǔ)器、A/D、D/A等IC芯片進(jìn)行修正。從1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以來(lái)，繼而形成系列的還有泰克（Tektronix）公司的3200系列，泰瑞達(dá)(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤電氣（Ando E

7、lectron）的8000系列、愛德萬(wàn)(Aduantest)的T3100、T320、T3700系列以及美國(guó)Megatest公司的Q-11系列，都取得較好的效益?，F(xiàn)在，測(cè)試儀的功能測(cè)試速率已達(dá)500MHz以上，可測(cè)管腳數(shù)多達(dá)1024個(gè)，定時(shí)精度±55ps，測(cè)試儀的發(fā)展速度是驚人的。</p><p>　　我國(guó)在70年代初就開始了集成電路測(cè)試儀的研制工作，80年代后期國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀的水平，特別是自行設(shè)計(jì)能

8、力有較大提高，測(cè)試?yán)碚?、測(cè)試方法、測(cè)試系統(tǒng)的研究試驗(yàn)工作受到國(guó)家重視，初步形成一支科研、設(shè)計(jì)、制造的技術(shù)隊(duì)伍。國(guó)內(nèi)研究或制造集成電路測(cè)試儀的研究所與工廠主要有中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所、半導(dǎo)體所、北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所、光華無(wú)線電儀器廠（767廠）、北京無(wú)線電儀器廠、北京科力公司等。1986年科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所研制成功ICT-2 LSI/VISI綜合測(cè)試系統(tǒng)，功能測(cè)試速率10MHz/20MHz，通道數(shù)48（128），OTA(系統(tǒng)總定時(shí)精

9、度)±2ns。1987年北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所研制成功BC3170存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，功能測(cè)試速率20MHz，通道數(shù)32個(gè)。同期光華無(wú)線電儀器廠推出GH3123型集成電路自動(dòng)測(cè)試儀，北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所BC3110X型集成電路測(cè)試儀研制成功。這兩種采用CAT技術(shù)的中小規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)，標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)中小規(guī)模集成電路測(cè)試儀的技術(shù)水平進(jìn)入新的發(fā)展時(shí)期和走向?qū)嵱秒A段。繼而北京科力公司研制和生產(chǎn)測(cè)試速率12.5MHz、64通道大規(guī)模數(shù)字

10、集成電路測(cè)試系統(tǒng)。此后不久</p><p>　　1996年，由北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所、國(guó)營(yíng)光華無(wú)線電儀器廠、中科院計(jì)算技術(shù)研究所聯(lián)合研制成功3190數(shù)字集成電路大型測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試速率 40MHz，通道數(shù)64個(gè)，定時(shí)精度±750ps，達(dá)到八十年代中后期國(guó)際先進(jìn)水平，國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀上了一個(gè)新臺(tái)階。</p><p>　　國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀雖有一定的發(fā)展，但與國(guó)際水平仍存在較大差距。

11、市場(chǎng)上各種型號(hào)國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀，中小規(guī)模占80%，只有少數(shù)采用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試。大規(guī)模IC測(cè)試系統(tǒng)ICT-2、BC3170、3190類大系統(tǒng)，由于價(jià)格、可靠性、實(shí)用性等因素導(dǎo)致沒有實(shí)用化。因此，大規(guī)模IC測(cè)試系統(tǒng)主要依靠進(jìn)口解決國(guó)內(nèi)的科研、生產(chǎn)與應(yīng)用測(cè)試。</p><p>　　集成電路測(cè)試儀按測(cè)試門類可分為數(shù)字集成電路測(cè)試儀、存貯器測(cè)試儀、模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀，在線測(cè)試系統(tǒng)和驗(yàn)證系統(tǒng)等。由于這些測(cè)試儀的測(cè)試對(duì)象、測(cè)試

12、方法以及測(cè)試內(nèi)容都存在差異，因此各系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)、配置和技術(shù)性能差別較大。 </p><p>　　目前有兩種集成電路測(cè)試系統(tǒng)，一種是整板測(cè)試，稱板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。另一種是對(duì)單個(gè)芯片測(cè)試，稱芯片級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。</p><p>　　電路板的測(cè)試可分為帶微處理器的電路板的測(cè)試和不帶微處理器的電路板的測(cè)試，即CPU板和普通電路板的測(cè)試。隨著計(jì)算機(jī)和微電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，微處理器在電子產(chǎn)品中得到了廣泛的應(yīng)用.

13、它們?cè)谔岣唠娐钒宓募啥取⒃鰪?qiáng)電路板的功能的同時(shí)，也給電路板的測(cè)試和維修帶來(lái)了困難。對(duì)于普通PCB的測(cè)試，常用的方法有功能測(cè)試、在線測(cè)試和組合測(cè)試。但是，隨著SMD技術(shù)以及其它新的封裝和制造技術(shù)在PCB中運(yùn)用，使得電路板上并非每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)都是可及的，因此，無(wú)法實(shí)現(xiàn)完全的在線測(cè)試;同時(shí)，由于器件日益復(fù)雜和集成度的不斷提高，無(wú)論是功能測(cè)試還是在線測(cè)試都出現(xiàn)了編程和測(cè)試圖形產(chǎn)生困難的問題。目前，國(guó)內(nèi)儀器、儀表公司和科研機(jī)構(gòu)研制的電路板測(cè)試儀

14、，其對(duì)微處理儀器的測(cè)試采用存儲(chǔ)響應(yīng)法，要求測(cè)試圖形量大且難度大，故障診斷率不高。而市場(chǎng)上的先進(jìn)的可準(zhǔn)確檢測(cè)應(yīng)用微處理器的電路板的測(cè)試儀器都是國(guó)外儀器、儀表公司研制生產(chǎn)的，價(jià)格昂貴，一般在幾萬(wàn)美元至幾十萬(wàn)美元不等。電路板測(cè)試儀采用的測(cè)試技術(shù)除了在線測(cè)試、功能測(cè)試之外，近幾年又出現(xiàn)了矢量測(cè)試技術(shù)、邊界掃描技術(shù)和非矢量測(cè)試技術(shù)。因?yàn)閹⑻幚砥鞯碾娐钒鍖?duì)外界來(lái)說(shuō)主要是輸出信號(hào)，直接從外界注入</p><p>　　芯片級(jí)測(cè)

15、試又分在線測(cè)試和離線測(cè)試。所謂在線測(cè)試對(duì)焊接 在電路板上的各芯片做邏輯測(cè)試和故障診斷;而離線測(cè)試是對(duì)脫離電路板的芯片進(jìn)行測(cè)試和故障判斷。隨著數(shù)字集成電路的應(yīng)用日趨廣泛和國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展的支持，國(guó)內(nèi)TTL系列、CMOS系列數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)能力得到了長(zhǎng)足的發(fā)展。數(shù)字集成電路的應(yīng)用非常普及，常用的有TTL系列、CMOS系列等。在調(diào)試或維修電路工作中經(jīng)常需要對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試、分析。但是，一般設(shè)計(jì)公司不會(huì)去考慮生產(chǎn)線設(shè)備的開發(fā)，而大多數(shù)家工廠沒

16、有系統(tǒng)研發(fā)能力，因而國(guó)內(nèi)從事集成電路后到加工的企業(yè)所用的測(cè)試設(shè)備大部分是從國(guó)外引進(jìn)的。這些設(shè)備價(jià)格昂貴，操作復(fù)雜，在一定程度上增加了集成電路生產(chǎn)的成本。目前，有一些測(cè)試數(shù)字集成電路的測(cè)試儀，測(cè)試儀體積較大，操作麻煩，測(cè)量準(zhǔn)確性差，測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，使用起來(lái)很不方便。集成電路的測(cè)試是一件經(jīng)常性的工作，在一批電路里電路是好是壞從表面上是看不出來(lái)的。如用簡(jiǎn)單辦法，給電路加電源用萬(wàn)用表測(cè)，則是一件非常麻煩的事，這不僅對(duì)技術(shù)人員的素質(zhì)有很高的要求，而且

17、故障診斷的速度慢，質(zhì)量差。因?yàn)橐粔K電路有好多腳，要按照真值表一拍一拍去測(cè)，是一件困難的事。對(duì)一般用戶而言，只需對(duì)</p><p>　　本論文研究的內(nèi)容為芯片級(jí)數(shù)字集成電路邏輯功能測(cè)試系統(tǒng)，采用功能驗(yàn)證測(cè)試法產(chǎn)生測(cè)試矢量，離線完成24腳以下TTL74154>COMS4000/4500系列芯片測(cè)試。本測(cè)試系統(tǒng)即可實(shí)現(xiàn)脫機(jī)工作，適應(yīng)野外作業(yè)，又可連機(jī)工作，享受PC機(jī)提供的強(qiáng)大功能和友好的人機(jī)界面。 本論

18、文首先介紹測(cè)試原理和測(cè)試基本概念，接著提出測(cè)試生成算法，構(gòu)造測(cè)試系統(tǒng)硬件電路，用功能驗(yàn)證測(cè)試法建立各芯片測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，最后給出程序流程圖和測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)工作和連機(jī)工作。即一方面單片機(jī)系統(tǒng)獨(dú)立工作，通過小鍵盤鍵入芯片型號(hào)，按測(cè)試運(yùn)行鍵后，通過查表把固化在單片機(jī)ROM 中的部分芯片測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)調(diào)入內(nèi)部RAM中，進(jìn)行測(cè)試;另一方面根據(jù)芯片測(cè)試表在PC機(jī)上建立ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù)，在VB環(huán)境中調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)，通過串行通信，把數(shù)據(jù)輸入到單片機(jī)內(nèi)部RAM

19、，進(jìn)行測(cè)試。其中，硬件電路包括:PC機(jī)和單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)。單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)包括:中心控制單元，電源和地自動(dòng)控制單元，外設(shè)單元等。電源和地自動(dòng)控制單元就是通過573通過三極管8550控制待測(cè)芯片Vcc和GND引腳與電源和地線之間的接通與斷開，從而實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片Vcc和GND引腳的自動(dòng)控制。而</p><p>　　2總體方案設(shè)計(jì)及工作過程</p><p>　　74系列的芯片較常見的就有好多，不同型號(hào)

20、的數(shù)字集成芯片其邏輯功能不同、引腳排列不同、甚至哪些引腳作為輸入，哪些引腳作為輸出都不固定，也就是說(shuō)，某個(gè)型號(hào)的集成芯片的其中一只引腳是輸入腳，而另一個(gè)型號(hào)的集成芯片的同一只引腳卻可能是輸出腳了。所以必須要有這樣的接口電路：和集成芯片引腳連接的檢測(cè)端口既可作為輸入，又可作為輸出。</p><p>　　單片機(jī)89C51的P1、P3端口是準(zhǔn)雙向I/O口：既可作為輸入口，又可作為輸出口;為檢測(cè)奠定了重要的基礎(chǔ)。檢測(cè)的基

21、本原理是：根據(jù)芯片的功能、引腳排列情況、以及各引腳的輸入輸出特性，向芯片的輸入引腳發(fā)送輸入信號(hào)，再由芯片的輸出引腳接收輸出（響應(yīng)）信號(hào)，然后從輸出信號(hào)的邏輯值與正確的結(jié)果是否相符來(lái)判斷芯片的好壞。</p><p>　　2.1 芯片檢測(cè)原理</p><p>　　2.1.1 芯片檢測(cè)原理</p><p>　　(1)首先檢測(cè)待測(cè)芯片是否接觸良好(見芯片引腳檢測(cè)原理).&l

22、t;/p><p>　　(2)根據(jù)真值表，計(jì)算出芯片的輸入輸出的關(guān)系，從單片機(jī)的ROM中取出真值表并輸出到待測(cè)芯片的端口。再通過檢測(cè)芯片的輸出是不是和預(yù)期的一樣，如果一致則進(jìn)行顯示芯片的具體型號(hào)，如果不一致則檢測(cè)下一組真值表。</p><p>　　例如：74LS02的真值表計(jì)算后如下</p><p>　　unsigned char code ls02_l[4]={0x

23、ff ,0xb7,0x6f, 0x27};//芯片左邊輸入值</p><p>　　unsigned char code ls02_r[4]={0xff ,0x6f, 0xb7, 0x27};//芯片右邊輸入值</p><p>　　unsigned char code ls02_test_l[4]={0xdb,0x93,0x4b,0x27};//芯片左邊輸出值</p>&

24、lt;p>　　unsigned char code ls02_test_r[4]={0xdb,0x4b,0x93,0x27};//芯片右邊輸出值</p><p>　　從單片機(jī)中調(diào)出0xb7,0x6f輸出到芯片座左右邊。載檢測(cè)輸出結(jié)果是不是0x93,0x4b.依次檢測(cè)所有該型號(hào)的真值表。其中只要有一個(gè)不正確就檢測(cè)下一組真值表，全部正確則顯示該真值表對(duì)應(yīng)的型號(hào)等信息。</p><p>

25、　　2.1.2 芯片引腳檢測(cè)原理</p><p>　　單片機(jī)首先掃描待測(cè)芯片引腳是否接觸良好。過程如下：芯片引腳內(nèi)部都有方向二極管保護(hù)如圖所示。</p><p>　　當(dāng)CD4051選通后，芯片引腳就加上負(fù)電壓，D1導(dǎo)通，電流經(jīng)過GND-->D1-->芯片引腳內(nèi)部電阻-->CD4051(工作時(shí)相當(dāng)于120歐姆的電阻)-->R1-->R2-->-5v電源，形

26、成電流回路(見圖紙I)。</p><p>　　從原理圖* 處取出電壓與基準(zhǔn)電壓(由R3產(chǎn)生,約-1.4v)相比較(比較器LM311)。得出OUT信號(hào)，單片機(jī)檢測(cè)OUT信號(hào)，若是高電平則芯片接觸良好，如果是低電平則引腳接觸不良或者引腳損壞。依次下去直到全部引腳檢測(cè)完畢。</p><p><b>　　引腳檢測(cè)的作用：</b></p><p>　　可

27、以判斷芯片是否正確放入插座</p><p>　　判斷芯片的具體引腳個(gè)數(shù)</p><p>　　初步判斷芯片是否完好(D1是否完好)</p><p><b>　　幾點(diǎn)說(shuō)明：</b></p><p>　　CD4051是8路模擬開關(guān),由ABC控制芯片OUT引腳與X0~X7的相連，INH是使能信號(hào)</p><p

28、>　　LM311是OC門輸出(開漏輸出)，輸出必須接上拉電阻</p><p>　　芯片引腳接觸良好時(shí)引腳(圖中已注明)電壓約-1.29v，未插入芯片是測(cè)該店電壓為-1.59v</p><p>　　2.2 測(cè)試儀的原理、結(jié)構(gòu)和技術(shù)指標(biāo) </p><p>　　2.2.1 測(cè)試儀工作原理和總體結(jié)構(gòu)</p><p>　　本設(shè)計(jì)方案要實(shí)現(xiàn)24腳以

29、內(nèi)的TTL系列、CMOS系列雙列直插封裝數(shù)字集成電路邏輯功能的自動(dòng)測(cè)試。測(cè)試儀的基本原理是將被測(cè)集成電路器件的實(shí)際邏輯功能與存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)邏輯功能表相比較，兩者一致證明被測(cè)器件是好的，不一致證明是壞的。圖3-1為IC芯片測(cè)試系統(tǒng)硬件框圖。測(cè)試儀由PC機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)由單片機(jī)AT89S52、鍵盤、LCD顯示等組成。AT89S52是一種電擦寫低功耗、高性能的8位CMO0btS5系S微控制器，內(nèi)含8ki

30、閃爍存儲(chǔ)器，與工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)MC-1列全兼容。由于內(nèi)含EPROM和RAM，不需外接存儲(chǔ)器。EPROM中存有根據(jù)集成電路的測(cè)試原理求出的各種集成電路芯片的最小測(cè)試集和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果。RAM作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和交換區(qū)。在電路中采用多支可編程拍接口芯片與測(cè)試座相連，原因在于在測(cè)試各種IC芯片時(shí)不盡相同，電路設(shè)計(jì)時(shí)的插座引腳一經(jīng)接好就不能動(dòng)。為了保證CPU輸出的信息能更有效的傳送到被側(cè)IC芯片的輸入端，還要保證CPU能有效的從被測(cè)IC芯片的輸出端讀入響應(yīng)值，

31、就希望不更改硬件的連接，而又能根據(jù)IC芯片的不而更改輸入輸出引腳的位置，這只有使用可編程接口芯片</p><p>　　2.2.2 測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo) </p><p>　　l.測(cè)試自動(dòng)化，24腳測(cè)試插座固定，測(cè)試范圍不受被測(cè)器件的輸入、輸出、電源和地的位置的限制。.. </p><p>　　2.同型號(hào)大批量器件測(cè)試簡(jiǎn)捷方便，效率很高。 </p><

32、p>　　3．能測(cè)試TTTL45, MOS/5000系列的門電路，計(jì)數(shù)器等器件。</p><p>　　2.2.3 電路工作過程</p><p>　?。?）待測(cè)芯片放入底座上，芯片底座24腳分別連接到3片CD4051共24腳上，4051為8路模擬開關(guān)，8路輸入信號(hào)，一路輸出由使能信號(hào)及控制信號(hào)控制每一路的輸出，使能信號(hào)由單片機(jī)通過573鎖存器控制每一個(gè)模擬開關(guān)的工作，CD4051每一路的

33、輸出CMP分別輸入到LM311比較器進(jìn)行比較，比較后的信號(hào)LM311 OUT輸入到單片機(jī)P1.1口，直到比較完成，確定待測(cè)芯片管腳數(shù)目，這樣就對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行供電。當(dāng)知道待測(cè)芯片的管腳數(shù)目后，通過單片機(jī)寫程序，由單片機(jī)P0口輸入到573鎖存器，再通過三極管8550的導(dǎo)通控制高電平的輸出到芯片電源位置，待測(cè)芯片上電工作。</p><p>　　（2）單片機(jī)輸入真值表到待測(cè)芯片進(jìn)行比較。單片機(jī)通過573鎖存器輸入到待測(cè)芯

34、片，由P0口每輸入到一573后，573暫時(shí)將其所存，全部輸出完成后，此3片573的打開信號(hào)由單片機(jī)通過138譯碼器控制，三573全部打開，數(shù)據(jù)輸入到芯片上，檢測(cè)芯片的輸出。此數(shù)據(jù)通過245雙向收發(fā)器輸入到單片機(jī)，此過程中245的使能信號(hào)也有138譯碼器控制，單片機(jī)的輸出與輸入進(jìn)行比較，如果相同，則此芯片正確，單片機(jī)發(fā)出指令，有245輸入到LCD顯示屏上進(jìn)行邏輯符號(hào)與真值表的顯示，此芯片檢測(cè)完成。如果比較不相同，單片機(jī)繼續(xù)輸出下一組真值表

35、數(shù)據(jù)，重復(fù)上述步驟檢測(cè)，</p><p><b>　　3硬件部分介紹</b></p><p>　　3．1 AT89S52微處理器</p><p>　　對(duì)單片機(jī)的要求是能夠方便地?cái)U(kuò)展顯示器、鍵盤、外設(shè)，其他并無(wú)特殊要求。常見的單片機(jī)有8051系列的單片機(jī)、8096系列的單片機(jī)、凌陽(yáng)的SPCE061A單片機(jī)等等。由于8051系列的單片機(jī)應(yīng)用范圍廣，

36、價(jià)格便宜，功能齊全。因此我們選用了的8051系列的單片機(jī)。</p><p><b>　　3．1．1 簡(jiǎn)介</b></p><p>　　我們采用8051系列的AT89S52作為CPU，AT89S52是一種帶8K字節(jié)FLASH可編程可擦除只讀存儲(chǔ)器（FPEROM—Flash Programmable and Erasable Read Only Memory）的低電壓，高

37、性能CMOS8位微處理器。該器件采用ATMEL高密度非易失存儲(chǔ)器制造技術(shù)制造，與工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的MCS-51指令集和輸出管腳相兼容。</p><p>　　3．1．2 主要特性</p><p>　　1）與MCS-51兼容 ；</p><p>　　2）8位字長(zhǎng)的CPU；</p><p>　　3）可在線ISP編程的8KB片內(nèi)FLASH存儲(chǔ)器，用于程序存儲(chǔ)

38、，可擦寫1000次；</p><p>　　4） 256B的片內(nèi)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，其中高128字節(jié)地址被特殊功能寄存器SFR占用；</p><p>　　5）可編程的32根I/O口線（P0～P3）；</p><p>　　6）2個(gè)可編程16位定時(shí)器；</p><p>　　7）一個(gè)數(shù)據(jù)指針DPTR；</p><p>　　8）1個(gè)可編

39、程的全雙工串行通信口；</p><p>　　9）具有“空閑”和“掉電”兩種低功耗工作方式；</p><p>　　10）可編程的3級(jí)程序鎖定位；</p><p>　　11）工作電源的電壓為5（1±0.2）V；</p><p>　　12）振蕩器最高頻率為24MHz；</p><p>　　13）編程頻率3 ～24

40、MHz，編程電流1mA，編程電壓為5V。</p><p>　　3．1．3 芯片引腳排列與名稱</p><p>　　DIP封裝形式的AT89S51的芯片引腳排列與名稱如圖1所示。</p><p><b>　　VCC：供電電壓。</b></p><p><b>　　GND：接地。</b></p&g

41、t;<p>　　P0口：P0口為一個(gè)8位，并行， 圖1 AT89S51的芯片引腳排列與名稱</p><p>　　漏極開路雙向I/O口，作為輸出時(shí)可驅(qū)動(dòng)8個(gè)TTL負(fù)載。該口內(nèi)無(wú)上拉電阻，在設(shè)計(jì)中作為真值表輸入、輸出，DUT供電選擇的控制輸出以及液晶顯示器的數(shù)據(jù)口。</p><p>　　P1口：P1口是一個(gè)內(nèi)部提供上拉電阻的8位雙向I/O口，P1口緩沖器能接收輸出4個(gè)TTL

42、門電流。P1口管腳寫入1后，被內(nèi)部上拉為高，可用作輸入，該口在設(shè)計(jì)中分開作位控制器，具體見電路圖</p><p>　　P2口：P2口為一個(gè)內(nèi)部上拉電阻的8位雙向I/O口，P2口緩沖器可接收/輸出4個(gè)TTL門電流，當(dāng)P2口被寫“1”時(shí)，其管腳被內(nèi)部上拉電阻拉高，可作為輸入。在作為輸出時(shí)，P2口的管腳被外部拉低，將輸出電流。</p><p>　　P3口：P3口管腳是帶內(nèi)部上拉電阻的8位雙向I/

43、O口，可接收輸出4個(gè)TTL門電流。當(dāng)P3口寫入“1”后，它們被內(nèi)部上拉為高電平，并用作輸入。作為輸入，由于外部下拉為低電平，P3口將輸出電流，這是由于上拉的緣故。P3口也可作為AT89S51的一些特殊功能口，如下表1所示：</p><p>　　表1 各端口引腳與復(fù)用功能表</p><p>　　RST：該引腳為復(fù)位信號(hào)輸入端，高電平有效。在振蕩器穩(wěn)定工作情況下，該引腳被置成高電平并持續(xù)兩個(gè)機(jī)

44、器周期以上是系統(tǒng)復(fù)位。</p><p>　　ALE/PROG：當(dāng)訪問外部存儲(chǔ)器時(shí)，地址鎖存允許的輸出電平用于鎖存地址的地位字節(jié)。在FLASH編程期間，此引腳用于輸入編程脈沖。該引腳在設(shè)計(jì)中作為鎖存器器和A/D的時(shí)鐘信號(hào)。</p><p>　　/PSEN：外部程序存儲(chǔ)器的選通信號(hào)。</p><p>　　/EA/VPP：/EA為訪問芯片內(nèi)部和芯片外部程序存儲(chǔ)器的選擇信號(hào)

45、。在FLASH編程期間，此引腳也用于施加12V編程電源（VPP）。</p><p>　　XTAL1：芯片內(nèi)振蕩器放大器的輸入及內(nèi)部時(shí)鐘工作電路的輸入。</p><p>　　XTAL2：芯片內(nèi)振蕩器放大器的輸出。 </p><p>　　3.2 ZLG7290 I C 接口鍵盤及LED 驅(qū)動(dòng)器 一 特點(diǎn) 1 I C 串行接口 提供鍵盤中斷信號(hào) 方便與處理器接口

46、2 可驅(qū)動(dòng)8位共陰數(shù)碼管或64只獨(dú)立LED和64個(gè)按鍵 3 可控掃描位數(shù) 可控任一數(shù)碼管閃爍 4 提供數(shù)據(jù)譯碼和循環(huán) 移位 段尋址等控制 5 8 個(gè)功能鍵 可檢測(cè)任一鍵的連擊次數(shù) 6 無(wú)需外接元件即直接驅(qū)LED ，可擴(kuò)展驅(qū)動(dòng)電流和驅(qū)動(dòng)電壓 7 提供工業(yè)級(jí)器件 多種封裝形式PDIP24 </p>

47、<p><b>　　三 功能描述 </b></p><p><b>　　1 鍵盤部分 </b></p><p>　　ZLG7290可采樣 64 個(gè)按鍵或傳感器，可檢測(cè)每個(gè)按鍵的連擊次數(shù) 其基本功能如下 ： （1）鍵盤去抖動(dòng)處理 </p><p>　　當(dāng)鍵被按下和放開時(shí) 可能會(huì)出現(xiàn)電平狀態(tài)反復(fù)變化 稱作鍵盤抖

48、動(dòng) 若不作處理會(huì)引起按鍵盤命令錯(cuò)誤所以要進(jìn)行去抖動(dòng)處理 以讀取穩(wěn)定的鍵盤狀態(tài)為準(zhǔn) （2）雙鍵互鎖處理 </p><p>　　當(dāng)有兩個(gè)以上按鍵被同時(shí)按下時(shí) ZLG7290 只采樣優(yōu)先級(jí)高的按鍵 優(yōu)先順序?yàn)镾1>S2>…>S64 </p><p>　　如同時(shí)按下S2和S18時(shí)采樣到S2 （3）連擊鍵處理 </p><p>　　當(dāng)某個(gè)按鍵按下時(shí)，輸出

49、一次鍵值后，如果該按鍵還未釋放，該鍵值連續(xù)有效，就像連續(xù)壓按該鍵一樣，這種功能稱為連擊。連擊次數(shù)計(jì)數(shù)器 RepeatCnt，可區(qū)別出單擊（某些功能不允許連擊如開關(guān)）或連擊。判斷連擊次數(shù)可以檢測(cè)被按時(shí)間，以防止某些功能誤操作（如連續(xù)按5秒進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置狀態(tài)）。 </p><p><b>　?。?）功能鍵處理 </b></p><p>　　功能按鍵實(shí)現(xiàn)2個(gè)以上按鍵同時(shí)按下來(lái)

50、擴(kuò)展按鍵數(shù)目或?qū)崿F(xiàn)特殊功能。如ＰＣ機(jī)上的“SHIFT”，“CTRＬ”，等Alt 鍵 典型應(yīng)用圖中的S57~S64 為功能鍵。</p><p><b>　　2 顯示部分 </b></p><p>　　在每個(gè)顯示刷新周期 ZLG7290 按照掃描位數(shù)寄存器 （ScanNum）指定的顯示位數(shù)N ，把顯示緩存DpRam～ DpRamN的內(nèi)容按先后循序送入LED 驅(qū)動(dòng)器實(shí)

51、現(xiàn)動(dòng)態(tài)顯示，減少N值可提高每位顯示掃描時(shí)間的占空比，以提高LED 亮度，顯示緩存中的內(nèi)容不受影響。修改閃爍控制寄存器 FlashOnOff，可改變閃爍頻率和占空比（亮和滅的時(shí)間）。</p><p>　　ZLG7290 提供兩種控制方式 寄存器映象控制和命令解釋控制 如上述對(duì)顯示部分的控制 寄存器映象控制是指直接訪問底層寄存器 實(shí)現(xiàn)基本控制功能 這些寄存器須字節(jié)操作命令解釋控制是指通過解釋命令緩沖區(qū) CmdBuf

52、0 CmdBuf中的指令，間接訪問底層寄存器實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展控制功能 如實(shí)現(xiàn)寄存器的位操作 對(duì)顯示緩存循環(huán) 移位 對(duì)操作數(shù)譯碼等操作 請(qǐng)參考指令詳解部分。</p><p><b>　　四 寄存器詳解 </b></p><p>　　系統(tǒng)狀態(tài)部分 1.系統(tǒng)寄存器（SystemReg）：地址00H，復(fù)位值11110000B。系統(tǒng)寄存器保存ZLG7

53、290系統(tǒng)狀態(tài)，并可對(duì)系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行配置，其功能分位描述如下： </p><p>　　KeyAvi（SystemReg.0）：置1時(shí)表示有效的按鍵動(dòng)作（普通鍵的單擊，連擊， 和功能鍵狀態(tài)變化）， /INT引腳信號(hào)有效（變?yōu)榈碗娖剑?；?時(shí)表示無(wú)按鍵動(dòng)作，/INT引腳信號(hào)無(wú)效（變?yōu)楦咦钁B(tài)）。有效的按鍵動(dòng)作消失后或讀Key后，KeyAvi位自動(dòng)清0。</p><p><b>　　鍵

54、盤部分 </b></p><p>　　2.鍵值寄存器（Key）：地址01H，復(fù)位值00H 。Key表示被壓按鍵的鍵值。當(dāng)Key=0時(shí)，表示沒有鍵被壓按 3.連擊次數(shù)計(jì)數(shù)器（RepeatCnt）：地址02H，復(fù)位值00H。RepeatCnt=0時(shí)，表示單擊鍵 。RepeatCnt大于0時(shí)，表示鍵的連擊次數(shù)。用于區(qū)別出單擊鍵或連擊鍵，判斷連擊次數(shù)可以檢測(cè)被按時(shí)間。 4.功能鍵寄存器（Func

55、tionKey）：地址03H，復(fù)位值0FFH， FunctionKey對(duì)應(yīng)位的值=0表示對(duì)應(yīng)功能鍵被壓按（FunctionKey.7~FunctionKey.0對(duì)應(yīng)S64~ S57）。</p><p><b>　　命令接口部分 </b></p><p>　　5. 命令緩沖區(qū)（CmdBuf0 ~ CmdBuf1）：地址07H~08H，復(fù)位值00H~00H，用于傳輸指令

56、。 </p><p><b>　　顯示部分 </b></p><p>　　6.閃爍控制寄存器（FlashOnOff）：地址0CH，復(fù)位值0111B/0111B。高4位表示閃爍時(shí)亮的時(shí)間，低4位表示閃爍時(shí)滅的時(shí)間，改變其值同時(shí)也改變了閃爍頻率，也能改變亮和滅的占空比。FlashOnOff的1個(gè)單位相當(dāng)于150~ 250ms（亮和滅的時(shí)間范圍為1~16，0000B相當(dāng)1

57、個(gè)時(shí)間單位），所有象素的閃爍頻率和占空比相同。</p><p>　　7．掃描位數(shù)寄存器（ScanNum）：地址0DH,復(fù)位值7，用于控制最大的掃描顯示位數(shù)（有效范圍 為 0~7，對(duì)應(yīng)的顯示位數(shù)為 1 ~8），減少掃描位數(shù)可提高每位顯示掃描時(shí)間的占空比，以提高LED亮度，不掃描顯示的顯示緩存寄存器則保持不變，如ScanNum=3時(shí)，只顯示DpRam0~DpRam3的內(nèi)容。 </p><p>

58、　　8.顯示緩存寄存器（DpRam0~DpRam7）：地址10H~17H，復(fù)位值00H~00H。緩存中一位置1表示該像素亮，DpRam7~DpRam0 的顯示內(nèi)容對(duì)應(yīng)Dig7~Dig0 引腳。</p><p>　　五 通信接口 ZLG729的I2C接口傳輸速率可達(dá)32kbit/s，容易與處理器接口。并提供鍵盤中斷信號(hào)，提高主處理器時(shí)間效率。ZLG7290 的從地址（slave address）為70H

59、(01110000B)。</p><p>　　有效的按鍵動(dòng)作（普通鍵的單擊，連擊和功能鍵狀態(tài)變化），都會(huì)令系統(tǒng)寄存器（SystemReg）的KeyAvi位置1，/INT引腳信號(hào)有效（變?yōu)榈碗娖剑Ｓ脩舻逆I盤處理程序可由/INT引腳低電平中斷觸發(fā)，以提高程序效率；也可以不采樣/INT引腳信號(hào)節(jié)省系統(tǒng)的I/O數(shù)，而輪詢系統(tǒng)寄存器的KeyAvi位。要注意讀鍵值寄存器會(huì)令KeyAvi位清0，并會(huì)令/INT 引腳信號(hào)無(wú)效。

60、為確保某個(gè)有效的按鍵動(dòng)作所有參數(shù)寄存器的同步性，建議利用I2C通信的自動(dòng)增址功能連續(xù)讀RepeatCnt FunctionKey和Key寄存器，但用戶無(wú)需太擔(dān)心寄存器的同步性問題 應(yīng)為鍵參數(shù)寄存器變化速度較緩慢（典型250ms， 最快9ms）。 ZLG7290 內(nèi)可通過I2C總線訪問的寄存器地址范圍為：00H ~ 17H，任一寄存器都可按字節(jié)直接讀寫，

61、也可以通過命令接口間接讀寫或按位讀寫，請(qǐng)參考指令詳解部分。支持自動(dòng)增址功能（訪問一寄存器后，寄存器子地址 （sub address自動(dòng)加一）和地址翻轉(zhuǎn)功能（訪問最后一寄存器（子地址=17H）</p><p><b>　　3.軟件部分</b></p><p><b>　　編程軟件的介紹</b></p><p>　　單片機(jī)開發(fā)

62、中除必要的硬件外，同樣離不開軟件，我們寫的匯編語(yǔ)言程序要變?yōu)镃PU可以執(zhí)行的機(jī)器碼有兩種方法，一種是手工匯編，另一種是機(jī)器匯編，目前已極少用手工匯編的方法了。機(jī)器匯編是通過匯編軟件講源程序變?yōu)闄C(jī)器碼，用于MCS-51單片機(jī)的匯編軟件有早期的A51,隨著單片機(jī)開發(fā)技術(shù)的不斷發(fā)展，從普遍使用匯編語(yǔ)言到逐漸使用高級(jí)語(yǔ)言開發(fā)，單片機(jī)的開發(fā)軟件也在不斷發(fā)展，Keil軟件是目前最流行開發(fā)MCS-51系列單片機(jī)的軟件。Keil提供了包括C編譯器，紅匯

63、編，連接器，庫(kù)管理鶴一個(gè)功能強(qiáng)大的方針調(diào)試器等在內(nèi)的完整開發(fā)方案，通過一個(gè)集成開發(fā)環(huán)境（uVision）將這些部分組合在一起。</p><p><b>　　1建立項(xiàng)目文件</b></p><p>　　在項(xiàng)目開發(fā)中，并不是僅有一個(gè)源程序就行了，還要為這個(gè)項(xiàng)目選擇CPU（Keil支持?jǐn)?shù)百種CPU，而這些CPU的特性并不完全相同），確定編譯，匯編，連接的參數(shù)，指定調(diào)試的方式

64、，有一些項(xiàng)目還會(huì)有多個(gè)文件組成等，為管理和使用方便，Keil使用工程（Project）這一概念，將這些參數(shù)設(shè)置和所需的所有文件都加在一個(gè)工程中，只能對(duì)工程而不能對(duì)單一的源程序進(jìn)行編譯（匯編）和連接等操作</p><p><b>　　2 項(xiàng)目的詳細(xì)設(shè)置</b></p><p><b>　　3編譯、鏈接</b></p><p>

65、;　　設(shè)置好工程后，即可進(jìn)行編譯、鏈接。 選擇菜單Project->Build target,對(duì)當(dāng)前工程 進(jìn)行連接，如果當(dāng)前文件已修改，軟件會(huì)先對(duì)該文件進(jìn)行編譯，然后再鏈接以產(chǎn)生目標(biāo)代碼；如果選擇Rebuild All target files 將會(huì)對(duì)當(dāng)前工程中的所有文件重新進(jìn)行編譯然后連接，確保最終生成的目標(biāo)代碼是最新的。</p><p>　　以上操作也可以通過工具欄按鈕直接進(jìn)行，圖8是有關(guān)編譯、設(shè)置的

66、工具欄按鈕，從左到右分別是：編譯、編譯連接、全部重建、停止編譯和對(duì)工程進(jìn)行設(shè)置。編譯過程中的信息將出現(xiàn)在輸出窗口中的Build頁(yè)中，如果源程序中有語(yǔ)法錯(cuò)誤，會(huì)有錯(cuò)誤報(bào)告出現(xiàn)，雙擊該行，可以指定到出錯(cuò)的位置，對(duì)源程序反復(fù)修改之后，最終會(huì)得到如圖9所示的結(jié)果，提示獲得了名為exam1.hex的文件，該文件即可被編譯器讀入并寫到芯片中，同時(shí)還產(chǎn)生了一些其它相關(guān)的文件，可被用于Keil的仿真與調(diào)試，這時(shí)可進(jìn)入下一步調(diào)試的工作。</p>

67、;<p><b>　　有關(guān)LCD的介紹</b></p><p>　　所用為OCMJ12864，可顯示漢字，圖形，功能強(qiáng)大。</p><p><b>　　一、概述</b></p><p>　　TG12864B 是一種圖形點(diǎn)陣液晶顯示器， 它主要由行驅(qū)動(dòng)器/列驅(qū)動(dòng)器及128× 64全點(diǎn)陣液晶</p

68、><p>　　顯示器組成?？赏瓿蓤D形顯示,也可以8× 4個(gè)（ 16× 16 點(diǎn)陣） 漢字。</p><p>　　主要技術(shù)參數(shù)和性能：</p><p>　　1. 電源： VDD： +2.7~ +5V; 模塊內(nèi)自帶-10V 負(fù)壓， 用于LCD 的驅(qū)動(dòng)電壓。</p><p>　　2. 顯示內(nèi)容： 128（ 列） × 64（

69、 行） 點(diǎn)</p><p><b>　　3. 全屏幕點(diǎn)陣</b></p><p><b>　　4. 七種指令</b></p><p>　　5. 與CPU接口采用8位數(shù)據(jù)總線并行輸入輸出和8條控制線</p><p>　　6. 占空比1/64</p><p>　　7. 工作溫度：

70、 -10℃ ~+60℃ ， 儲(chǔ)存溫度： -20℃ ~+70℃ , 可選擇寬溫： -20℃ ~+70℃ （ 工作溫度）</p><p>　　三、模塊主要硬件構(gòu)成說(shuō)明</p><p>　　IC3 為行驅(qū)動(dòng)器， IC1， IC 為列驅(qū)動(dòng)器。IC1， IC2， IC3 含有如下主要功能器件。了解如下器件有利于對(duì)LCD模塊之編程。</p><p>　　1. 指令寄存器（ I

71、R）</p><p>　　IR 是用來(lái)寄存指令碼， 與數(shù)據(jù)寄存器寄存數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)。當(dāng)D/I=1 時(shí)， 在E 信號(hào)下降沿的作用</p><p>　　下， 指令碼寫入IR。</p><p><b>　　2. 數(shù)據(jù)寄存器</b></p><p>　　DR是用來(lái)寄存數(shù)據(jù)的， 與指令寄存器寄存指令相對(duì)應(yīng)。當(dāng)D/I=1 時(shí)， 在E 信

72、號(hào)的下降沿的作</p><p>　　用下， 圖形顯示數(shù)據(jù)寫入DR， 或在E信號(hào)高電平作用下由DR 讀到DB7~DB0 數(shù)據(jù)總線。DR 和</p><p>　　DDRAM 之間的數(shù)據(jù)傳輸是模塊內(nèi)部自動(dòng)執(zhí)行的。</p><p><b>　　3. 忙標(biāo)志:BF</b></p><p>　　BF 標(biāo)志提供內(nèi)部工作情況。BF=1

73、表示模塊在進(jìn)行內(nèi)部操作， 此時(shí)模塊不接受外部指令和數(shù)</p><p>　　據(jù)。BF=0 時(shí)， 模塊為準(zhǔn)備狀態(tài)， 隨時(shí)可接受外部指令和數(shù)據(jù)。</p><p>　　利用STATUS READ指令， 可以將BF 讀到DB7 總線， 從而檢驗(yàn)?zāi)K之工作狀態(tài)。</p><p>　　4. 顯示控制觸發(fā)器DFF</p><p>　　此觸發(fā)器是用于模塊屏幕顯

74、示開和關(guān)的控制。DFF=1 為開顯示（ DISPLAY ON）， DDRAM 的</p><p>　　內(nèi)容就顯示在屏幕上， DDF=0 為關(guān)顯示（ DISPLAY OFF）。</p><p>　　DDF 的狀態(tài)是指令DISPLAY ON/OFF 和RST信號(hào)控制的。</p><p>　　5. XY地址計(jì)數(shù)器</p><p>　　XY地址計(jì)數(shù)器

75、是一個(gè)9 位數(shù)計(jì)數(shù)器。高三位是X地址計(jì)數(shù)器， 低6 位為Y地址計(jì)數(shù)器， XY</p><p>　　地址計(jì)數(shù)器實(shí)際上是作為DDRAM 的地址指針， X地址計(jì)數(shù)器為DDRAM 的頁(yè)指針， Y地址計(jì)數(shù)</p><p>　　器為DDRAM 的Y地址指針。</p><p>　　X地址計(jì)數(shù)器是沒有記數(shù)功能的， 只能用指令設(shè)置。</p><p>　　Y地址

76、計(jì)數(shù)器具有循環(huán)記數(shù)功能，各顯示數(shù)據(jù)寫入后，Y地址自動(dòng)加1，Y地址指針從0 到63。</p><p>　　6. 顯示數(shù)據(jù)RAM（ DDRAM）</p><p>　　DDRAM 是儲(chǔ)存圖形顯示數(shù)據(jù)的。數(shù)據(jù)為1 表示顯示選擇，數(shù)據(jù)為0表示顯示非選擇。DDRAM</p><p>　　與地址和顯示位置的關(guān)系見DDRAM 地址表（ 見第頁(yè)）。</p><p&

77、gt;<b>　　7. Z地址計(jì)數(shù)器</b></p><p>　　Z地址計(jì)數(shù)器是一個(gè)6 位計(jì)數(shù)器， 此計(jì)數(shù)器具有循環(huán)記數(shù)功能， 它是用于顯示行掃描同步。當(dāng)</p><p>　　一行掃描完成， 此地址計(jì)數(shù)器自動(dòng)加1， 指向下一行掃描數(shù)據(jù)， RST 復(fù)位后Z地址計(jì)數(shù)器為0</p><p>　　Z地址計(jì)數(shù)器可以用指令DISPLAY START LIN

78、E 預(yù)置。因此， 顯示屏幕的起始行就由此指令</p><p>　　控制， 即DDTAM 的數(shù)據(jù)從哪一行開始顯示在屏幕的第一行。此模塊的DDRAM 共64 行， 屏幕</p><p>　　可以循環(huán)滾動(dòng)顯示64 行。</p><p><b>　　四、模塊的外部接口</b></p><p><b>　　五. 指令說(shuō)明

79、</b></p><p><b>　　指令表</b></p><p>　　1. 顯示開關(guān)控制(DISPLAY ON/OFF)</p><p>　　代碼R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式0 0 0 0 1 1 1

80、 1 1 D </p><p>　　D=1:開顯示(DISPLAY ON) 意即顯示器可以進(jìn)行各種顯示操作 </p><p>　　D=0:關(guān)顯示(DISPLAY OFF) 意即不能對(duì)顯示器進(jìn)行各種顯示操作 </p><p>　　2. 設(shè)置顯示起始行(DISPLAY START LINE) </p><p>　　代碼 R/W

81、 D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式 0 0 1 1 A5 A4 A3 A2 A1 A0</p><p>　　前面在Z地址計(jì)數(shù)器一節(jié)已經(jīng)描述了顯示起始行是由Z地址計(jì)數(shù)器控制的.A5-A0 6 位地址自</p><p>　　動(dòng)送入Z地址計(jì)數(shù)器.起始行的地址可以是0-63 的任意

82、一行. </p><p><b>　　例如: </b></p><p>　　選擇A5-A0 是62,則起始行與DDRAM 行的對(duì)應(yīng)關(guān)系如下:</p><p>　　DDRAM 行:62 63 0 1 2 3 ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ 28 29</p><p>　　屏幕顯示行: 1 2 3 4 5 6 ┉

83、 ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ ┉ 31 32</p><p>　　3. 設(shè)置頁(yè)地址(SET PAGE “ X ADDRESS” )</p><p>　　代碼R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式0 0 1 0 1 1 1 A2 A1 A0</p>

84、<p>　　所謂頁(yè)地址就是DDRAM 的行地址,8 行為一頁(yè),模塊共64 行即8 頁(yè),A2~A0 表示0~7 頁(yè).讀寫</p><p>　　地址對(duì)數(shù)據(jù)沒有影響,頁(yè)地址由本指令或RST 信號(hào)改變復(fù)位后頁(yè)地址為0.頁(yè)地址與DDRAM 的對(duì)</p><p>　　應(yīng)關(guān)系見DDRAM 地址表.</p><p>　　4. 設(shè)置Y地址(SET Y ADDRESS)&

85、lt;/p><p>　　代碼R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式0 0 0 1 A5 A4 A3 A2 A1 A0</p><p>　　此指令的作用是將A5~A0 送入Y地址計(jì)數(shù)器,作為DD RAM 的Y地址指針.在對(duì)DDRAM 進(jìn)</p><p>

86、　　行讀寫操作后,Y 地址指針自動(dòng)加1,指向下一個(gè)DDRAM 單元.</p><p>　　DDRAM 地址表:</p><p>　　5. 讀狀態(tài)(STATUS READ)</p><p>　　代碼R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式 0 1 BU

87、SY 0 ON/OFF RET 0 0 0 0 </p><p>　　當(dāng)R/W=1 D/I=0 時(shí),在E信號(hào)為“ H” 的作用下,狀態(tài)分別輸出到數(shù)據(jù)總線(DB7~DB0)的相應(yīng)位. </p><p>　　BF: 前面已敘述過(見BF標(biāo)志位一節(jié)). </p><p>　　ON/OFF: 表示DFF觸發(fā)器的狀態(tài)(見DFF 觸發(fā)器一節(jié))

88、. </p><p>　　RST: RST=1 表示內(nèi)部正在初始化,此時(shí)組件不接受任何指令和數(shù)據(jù). </p><p>　　6. 寫顯示數(shù)據(jù)(WRITE DISPLAY DATE) </p><p>　　代碼 R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p><p>　　形式0 1 D7 D6

89、 D5 D4 D3 D2 D1 D0</p><p>　　D7~D0 為顯示數(shù)據(jù),此指令把D7~D0 寫入相應(yīng)的DDRAM 單元,Y 地址指針自動(dòng)加1.</p><p>　　7. 讀顯示數(shù)據(jù)(REA DISPLAY DATA)</p><p>　　代碼 R/W D/I DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0</p>

90、<p>　　形式1 1 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0</p><p>　　此指令把DDRAM 的內(nèi)容D7~D0 讀到數(shù)據(jù)總線DB7~DB0,Y 地址指針自動(dòng)加1.</p><p><b>　　六. 讀寫操作時(shí)序</b></p><p><b>　　1. 寫操作時(shí)序</b>

91、;</p><p><b>　　2. 讀操作時(shí)序</b></p><p>　　3. 讀寫時(shí)序參數(shù)表</p><p><b>　　;</b></p><p><b>　　芯片信息的顯示</b></p><p>　　邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式由LCD顯示，所用軟件