平板表面細微缺陷快速檢測.pdf

1、在鋼帶、布匹、紙張、膠卷、玻璃、塑料薄膜等平板產品的大批量生產過程中，非接觸的無損表面檢測十分重要。光學測量是典型的非接觸檢測方法。其中，CCD(電荷耦合器件)測量是主要的表面測量方法之一。 在應用CCD進行快速檢測時，數據的處理存在著兩個主要的問題：一是處理速度慢，二是在弧形背景中判別缺陷。 在本文中，作者引入了模擬處理方法、視頻信號微分和缺陷脈沖計數的技術。利用模擬電路速度快的特點，解決了圖像處理慢的問題；利用視頻信

2、號微分技術，實現了抑制弧形背景，凸顯缺陷毛刺；利用缺陷脈沖計數技術，把缺陷信號轉變成為脈沖序列，通過對脈沖的計數，實現了缺陷的判別和報警；在使用模擬方法的同時，又結合了原有的數字處理方法，利用其保存信息完備，便于處理的特點，選擇性處理圖像，構成了模擬、數字雙通道數據處理系統，兼有二者各自的優(yōu)點。 本文中，作者詳細描述了模擬通道處理的原理、檢測系統各部分的硬件要求和相關硬件(缺陷檢測模塊、直流光源、DAC卡)的研制開發(fā)、配套檢測軟