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1、本文研究了用近場(chǎng)掃描技術(shù)測(cè)量超低旁瓣天線(xiàn)時(shí),幾種主要誤差源對(duì)天線(xiàn)性能指標(biāo)的影響及相應(yīng)的補(bǔ)償方法.本文首先對(duì)近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)的背景和現(xiàn)狀進(jìn)行介紹,給出了近場(chǎng)掃描的基礎(chǔ)理論和相關(guān)知識(shí),然后建立了超低旁瓣天線(xiàn)旁瓣測(cè)量總誤差與待測(cè)天線(xiàn)參數(shù)、近場(chǎng)幅相測(cè)量總誤差的數(shù)學(xué)模型并分析了隨機(jī)幅相誤差產(chǎn)生的誤差譜表達(dá)式;給出了有限掃描面截?cái)嗨鶎?dǎo)致的測(cè)量誤差、天線(xiàn)與探頭間的多次反射所導(dǎo)致的測(cè)量誤差、微波暗室不理想的電特性所導(dǎo)致的測(cè)量誤差對(duì)天線(xiàn)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖所引入的誤差
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