超低旁瓣陣列天線誤差理論分析與補償技術(shù).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文研究了用近場掃描技術(shù)測量超低旁瓣天線時,幾種主要誤差源對天線性能指標(biāo)的影響及相應(yīng)的補償方法.本文首先對近場測量技術(shù)的背景和現(xiàn)狀進行介紹,給出了近場掃描的基礎(chǔ)理論和相關(guān)知識,然后建立了超低旁瓣天線旁瓣測量總誤差與待測天線參數(shù)、近場幅相測量總誤差的數(shù)學(xué)模型并分析了隨機幅相誤差產(chǎn)生的誤差譜表達(dá)式;給出了有限掃描面截斷所導(dǎo)致的測量誤差、天線與探頭間的多次反射所導(dǎo)致的測量誤差、微波暗室不理想的電特性所導(dǎo)致的測量誤差對天線遠(yuǎn)場方向圖所引入的誤差

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