2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、流水線結(jié)構(gòu)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)兼顧精度與速度,在無(wú)線通信、醫(yī)療、生物等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用?;跀?shù)字校準(zhǔn)的ADC設(shè)計(jì)是解決高速與高精度這一矛盾的重要研究點(diǎn),具有十分重要的研究意義與價(jià)值。
  本文首先對(duì)近年來(lái)國(guó)內(nèi)外校準(zhǔn)方法進(jìn)行了歸類綜述,在總結(jié)其優(yōu)缺點(diǎn)的基礎(chǔ)上給出了適合本次設(shè)計(jì)指標(biāo)的校準(zhǔn)方法研究方向。
  其次,簡(jiǎn)要介紹了流水線ADC的結(jié)構(gòu),分析了其誤差來(lái)源,給出了ADC的性能判定指標(biāo)。并簡(jiǎn)單數(shù)學(xué)分析了最小均方誤差算法的原理。

2、
  針對(duì)傳統(tǒng)誤差建模中存在的四個(gè)問(wèn)題,本文在其基礎(chǔ)上給出了隨機(jī)誤差的建模,并基于此,提出了一種改進(jìn)的自適應(yīng)步長(zhǎng)盲均衡校準(zhǔn)算法。仿真表明,改進(jìn)的算法和傳統(tǒng)的算法相比,在誤差條件范圍一致的情況下,各性能指標(biāo)均有4~10dB的提升。同時(shí),改進(jìn)算法收斂速度更快,性能更穩(wěn)定。
  考慮到深亞微米以及納米級(jí)工藝芯片設(shè)計(jì)中線路間干擾越發(fā)嚴(yán)重,特別是在數(shù)?;旌显O(shè)計(jì)中,物理設(shè)計(jì)更加困難。本文在一種新的數(shù)值域—概率域內(nèi)將盲均衡算法進(jìn)行了重新設(shè)

3、計(jì)。在設(shè)計(jì)中,本文提出了一種新的高精度加法器設(shè)計(jì)方法和一種新的低復(fù)雜度高吞吐率的乘加結(jié)構(gòu)。最終仿真表明,在概率域中設(shè)計(jì)的盲均衡校準(zhǔn)算法依舊可以正常工作,且可以在一定程度上校準(zhǔn)非線性誤差。
  最后,本文在權(quán)衡設(shè)計(jì)指標(biāo)和實(shí)際設(shè)計(jì)困難的基礎(chǔ)上,選擇提出的第一種改進(jìn)方法進(jìn)行了實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì),完成了基于MATLAB-FPGA的原型驗(yàn)證,以及基于SMIC0.13um工藝的芯片設(shè)計(jì)。芯片設(shè)計(jì)DIE面積約為2*1.2mm2。在模擬電路實(shí)際仿真的數(shù)據(jù)(

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