基于JTAG的MCU調(diào)試模塊設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、嵌入式微控制器(MCU)片內(nèi)集成了CPU、通信接口、模數(shù)和數(shù)模外設(shè)、內(nèi)存等部件,已逐漸發(fā)展成為片上系統(tǒng)(SOC),簡(jiǎn)化了應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計(jì),使計(jì)算機(jī)技術(shù)從大型的通用型數(shù)值計(jì)算領(lǐng)域進(jìn)入到小型化、智能化領(lǐng)域,擴(kuò)大了計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用范圍。
　　在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)過程中,系統(tǒng)軟硬件調(diào)試是嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的重要環(huán)節(jié),一個(gè)高效強(qiáng)大的調(diào)試系統(tǒng)可以大大縮短系統(tǒng)的開發(fā)周期,增強(qiáng)產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。在嵌入式應(yīng)用系統(tǒng)中,如何利用可控的調(diào)試手段實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片內(nèi)部測(cè)試與軟件運(yùn)

2、行狀態(tài)監(jiān)控一直是微控器調(diào)試技術(shù)的一個(gè)難點(diǎn)。目前基于JTAG協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)(IEEEStandard1149.1-TESTAccessPortandBoundary-ScanArchitecture)的在線調(diào)試技術(shù)仍是嵌入式應(yīng)用系統(tǒng)最有效的調(diào)試方式。
　　基于JTAG標(biāo)準(zhǔn)的調(diào)試技術(shù),就是在MCU芯片內(nèi)設(shè)計(jì)符合JTAG協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)嵌調(diào)試結(jié)構(gòu)和模塊,實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)CPU啟?？刂?設(shè)置程序計(jì)數(shù)器,讀/寫內(nèi)存,塊讀/寫,設(shè)置硬件斷點(diǎn)以及對(duì)片內(nèi)FLAS

3、H在線擦除編程等操作,方便用戶對(duì)MCU應(yīng)用系統(tǒng)的在線開發(fā)調(diào)試。
　　MCU內(nèi)嵌JTAG接口后,MCU程序的下載以及片上存儲(chǔ)器的讀寫就可以通過JTAG接口進(jìn)行。但一般實(shí)現(xiàn)的JTAG接口安全性較差,只要符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的控制器就可以將程序代碼讀出。本文結(jié)合一款16位低功耗微控制器(MCU)的設(shè)計(jì),提出了一種JTAG調(diào)試功能模塊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),在芯片上集成了JTAG熔絲,應(yīng)用開發(fā)工程師在軟件開發(fā)結(jié)束后可以通過熔斷JTAG熔絲的方法,使得非授