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1、該論文分成二個(gè)部分。第一部分是關(guān)于在黑色聚合物襯底上沉積單層ITO(IndiumTinOxides)熱鏡膜制備太陽(yáng)能選擇性吸收表面的研究。ITO薄膜是一種半導(dǎo)體透明導(dǎo)電薄膜,具有很廣的應(yīng)用背景。若將ITO熱鏡膜沉積在黑色聚合物底襯上以制備光譜選擇性吸收表面,其突出優(yōu)點(diǎn)是不需要發(fā)射率很低的金屬做襯底。由于可采用柔性聚合物作為底襯,所以能降低太陽(yáng)能選擇性吸收表面的成本,有利于在太陽(yáng)能熱利用領(lǐng)域推廣應(yīng)用選擇性吸收表面。作者在第一部分研究了采用
2、普通和磁控濺射法制備ITO熱鏡膜的工藝以及制備工藝對(duì)ITO熱鏡膜的光學(xué)和熱輻射性能的影響。第二部分是關(guān)于金屬Al和Cu的光譜定向發(fā)射率的理論推算的研究。在該論文第二部分的工作中,作者針對(duì)在Fresnel公式中用Haugen-Rubens關(guān)系來(lái)預(yù)測(cè)金屬的熱輻射性質(zhì)存在的問題,推導(dǎo)出了描述Drude模型中金屬弛豫頻率γ的表達(dá)式,據(jù)此提出了改進(jìn)金屬的長(zhǎng)波熱輻射性質(zhì)的預(yù)測(cè)的D-R法。給出了D-R法、Hagen-Rubens關(guān)系式和n=k的假設(shè)對(duì)
3、金屬Al的定向發(fā)射率的理論預(yù)測(cè)結(jié)果,并將預(yù)測(cè)結(jié)果與Schmidt和Eckert的實(shí)驗(yàn)測(cè)量值進(jìn)行對(duì)比。對(duì)比結(jié)果顯示了D-R法的準(zhǔn)確性,而無(wú)論是Hagen-Rubens關(guān)系式還是n=k的假設(shè)都會(huì)導(dǎo)致金屬Al的長(zhǎng)波熱輻射性質(zhì)預(yù)測(cè)與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的明顯偏差。作者也給出了金屬Al在773K和金屬Cu在293K的法向發(fā)射率以及Cu在4μm的光譜法向發(fā)射率的理論預(yù)測(cè)與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的結(jié)比,對(duì)比結(jié)果同樣顯示了D-R法的準(zhǔn)確性。作者還給出了金屬Cu的光譜定向發(fā)射率的
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