電子器件低頻噪聲測試分析系統(tǒng).pdf

1、電子器件(包括半導體分立器件和集成電路)的內(nèi)部噪聲(特別是低頻噪聲)是制約器件靈敏度和檢測精度的一個關(guān)鍵指標,同時也是表征器件質(zhì)量和可靠性的一個重要的敏感參數(shù),對電子器件內(nèi)部噪聲的檢測與分析是軍用電子器件可靠性保證的一個有效手段.電子器件噪聲分析儀的搭建的有兩種方式:另一種是采用微機為主體的系統(tǒng)構(gòu)建方式.用虛擬儀器方式搭建測試平臺,有下列關(guān)鍵問題需要解決:其一是信號的連續(xù)雙通道采集;其二是寬范圍頻譜的快速計算;其三是軟件濾波.信號采集所

2、用的是DAQ-2010數(shù)據(jù)采集卡.該數(shù)據(jù)采集卡還帶有程控增益放大器、DA轉(zhuǎn)換器,為儀器的功能拓展創(chuàng)造了條件.數(shù)據(jù)的傳輸采用異步雙緩沖直接內(nèi)存訪問的方式,保證了數(shù)據(jù)傳輸?shù)目焖俸瓦B續(xù).信號的連續(xù)雙通道采集的實現(xiàn)為后續(xù)的時域分析和頻域分析創(chuàng)造了先決條件.頻譜的計算用的是以FFT為核心的改進的周期圖法,這滿足信號一致估計的條件.傳統(tǒng)的頻譜計算方法在幅值精確性和頻率分辨率之間存在著折衷,該論文在考慮噪聲信號特點的情況下,將二者在最大可能的情況下進