MWECR CVD法制備B-C薄膜的工藝研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文綜述了當(dāng)前B-C化合物的研究概況,簡單介紹了幾種制備B-C化合物的常用方法,并概述了目前人們已發(fā)現(xiàn)的B-C化合物的各種特性。本實(shí)驗(yàn)采用乙硼烷(B2H6)為B源,乙烯(C2H4)為C源,利用微波電子回旋共振化學(xué)氣相沉積法(MWECR CVD)沉積得到了B-C薄膜。主要研究了源氣體C2H4/B2H6摩爾比、工作氣壓、沉積溫度以及微波功率對薄膜成分、價鍵結(jié)構(gòu)以及沉積速率的影響。
  通過EDS譜對樣品成分分析得出,隨C2H4/B2H

2、6摩爾比的增加,樣品中C/B原子比呈指數(shù)關(guān)系增加。我們利用臺階儀測出樣品膜厚,計算出沉積速率,發(fā)現(xiàn):工作氣壓的增加,使沉積速率先增加后減小,在0.6 Pa時達(dá)到峰值,沉積速率為0.293 nm/s。隨基片溫度的升高,沉積速率也呈現(xiàn)出相同的規(guī)律,在100℃時達(dá)到最大,為0.227 nm/s。隨著微波功率的增加,沉積速率逐漸增加。
  通過對樣品 XPS全譜分析得出,升高基片溫度或增加微波功率,樣品中的B含量均逐漸增加,C/B原子比隨

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