基于邊界掃描的遠(yuǎn)程電子設(shè)備自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)備的功能越來(lái)越多、內(nèi)部的邏輯結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，使得電子設(shè)備出現(xiàn)故障的概率增大、測(cè)試難度增強(qiáng)。因此，對(duì)電子設(shè)備的測(cè)試和故障診斷提出了新的要求。電子設(shè)備的遠(yuǎn)程自動(dòng)測(cè)試技術(shù)作為電子測(cè)試領(lǐng)域中新的發(fā)展方向，主要采用計(jì)算機(jī)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，自動(dòng)完成激勵(lì)、數(shù)據(jù)、測(cè)試矢量的發(fā)送，并對(duì)輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理和分析。邊界掃描技術(shù)作為IEEE標(biāo)準(zhǔn)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)，不僅可以應(yīng)用于系統(tǒng)、模塊和PCB中，也可以應(yīng)用于包含有大規(guī)模集

2、成芯片的電子設(shè)備中；使用此方法對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試不但提高了故障檢測(cè)的準(zhǔn)確性，而且增強(qiáng)了測(cè)試系統(tǒng)的可靠性。本文在邊界掃描測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，展開(kāi)了對(duì)遠(yuǎn)程電子設(shè)備自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的研究。
　　本課題在融合了邊界掃描技術(shù)、自動(dòng)測(cè)試方法以及遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)傳輸技術(shù)的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了一種基于邊界掃描技術(shù)的遠(yuǎn)程自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。首先，介紹了邊界掃描測(cè)試控制器和邊界掃描電路的設(shè)計(jì)過(guò)程，重點(diǎn)對(duì)邊界掃描測(cè)試控制器的組成、端口設(shè)計(jì)以及邊界掃描電路各部分的功能設(shè)計(jì)做了詳細(xì)