邊界掃描測(cè)試建模關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子芯片的結(jié)構(gòu)越來(lái)越精密，外圍引腳排列越來(lái)越緊湊，內(nèi)部邏輯也越來(lái)越復(fù)雜，對(duì)大規(guī)模集成芯片的測(cè)試難度也大大增加，這就要求測(cè)試人員能提供更簡(jiǎn)單和精確的方法對(duì)芯片進(jìn)行故障診斷及維護(hù)。本課題針對(duì)集成電路測(cè)試的新特點(diǎn)，研究了以邊界掃描技術(shù)為基礎(chǔ)的電路測(cè)試方法，對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試、互連測(cè)試等關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了建模，并編寫(xiě)出通用的邊界掃描測(cè)試軟件，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)測(cè)試方法的不足，具有很強(qiáng)的實(shí)用性。
　　本文針對(duì)邊界掃描測(cè)試建模的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行

2、了以下幾方面的研究。
　　首先，根據(jù)邊界掃描測(cè)試軟件需求分析，制定邊界掃描測(cè)試軟件的總體規(guī)劃，采用分層模塊化的結(jié)構(gòu)，以 C語(yǔ)言為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)了各個(gè)測(cè)試模型的軟件編寫(xiě)。本文根據(jù)測(cè)試對(duì)象的特點(diǎn)，從測(cè)試原理，測(cè)試算法，故障模型和診斷方法等幾方面入手，建立了相應(yīng)的測(cè)試模型。通過(guò)合理的層次劃分和軟件設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了邊界掃描軟件不同層次化的建模。
　　其次，本文從邊界掃描基本原理出發(fā)，對(duì)邊界掃描測(cè)試方法進(jìn)行了研究，基于邊界掃描測(cè)試原理，建立了存

3、儲(chǔ)器和互連測(cè)試模型。存儲(chǔ)器測(cè)試劃分為存儲(chǔ)器信息模型、存儲(chǔ)器故障及存儲(chǔ)器算法模型，互連測(cè)試劃分為互連結(jié)構(gòu)模型、互連故障故障及互連算法模型。探討了不同測(cè)試算法的故障檢測(cè)能力，提出了一種優(yōu)化的互連測(cè)試算法。
　　最后，本文基于上述關(guān)鍵技術(shù)建立了邊界掃描測(cè)試軟件系統(tǒng)，對(duì)邊界掃描測(cè)試模型和方法進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。設(shè)計(jì)了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證板，并利用第三方的上位機(jī)程序構(gòu)建測(cè)試驗(yàn)證平臺(tái)，對(duì)存儲(chǔ)器和互連兩個(gè)關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，通過(guò)模擬故障，驗(yàn)證了測(cè)試模型的正