邊界掃描技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、通過對近幾十年邊界掃描技術文獻的總結,本文首先闡述了該技術產生的背景以及發(fā)展現(xiàn)狀.本文接著討論了芯片內部的邊界掃描測試結構以及邊界掃描測試方法在PCB測試中的工作原理,通過對基本理論的理解引出掃描測試過程中掃描測試矢量的處理,并從測試鏈路結構上闡述測試矢量優(yōu)化方法.通過一定的理論研究,將可測性設計應用到實際電路當中,實現(xiàn)對邊界掃描測試理論的驗證.根據對邊界掃描測試理論研究和試驗的結果,本文進一步提出了邊界掃描測試控制系統(tǒng)的設計方案,并將

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