高速數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、差分/交流耦合技術(shù)在高速數(shù)字信號(hào)通道中的廣泛應(yīng)用,給傳統(tǒng)上基于邊界掃描技術(shù)的互連測(cè)試帶來(lái)了困難。在此背景下,2003年 IEEE委員會(huì)推出了 IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn),為上述難題提供了解決方案。本文正是以此標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ),著重探討了差分/交流耦合信號(hào)通道的特點(diǎn)及其互連測(cè)試解決方案的可行性問(wèn)題。
　　文中介紹了IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)制訂的交流外測(cè)試規(guī)范,對(duì)交流耦合信號(hào)通道的衰減特性及可能發(fā)生的各種故障進(jìn)行了仿真。同時(shí),為了測(cè)試驗(yàn)證的需

2、要,設(shè)計(jì)了兼容IEEE1149.1、IEEE1149.4和IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試控制器、調(diào)試軟件、微機(jī)接口電路以及DEMO板,并以控制器為核心組建了一套邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試實(shí)踐表明,新標(biāo)準(zhǔn)制定的高速數(shù)字交流耦合、差分互連專(zhuān)用測(cè)試指令與測(cè)試結(jié)構(gòu)是有效的;同時(shí),測(cè)試控制器對(duì)IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)和IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)是兼容的。整個(gè)驗(yàn)證過(guò)程中,控制器工作穩(wěn)定,運(yùn)行效率高,用其組建的測(cè)試系統(tǒng)基本達(dá)到了實(shí)用化程度。從國(guó)內(nèi)外的報(bào)道和