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文檔簡(jiǎn)介
1、本文利用磁力顯微鏡研究納米尺度磁疇的檢測(cè)方法.探討了磁力顯微鏡的成像原理,在實(shí)驗(yàn)中研究了針尖磁化方向、儀器參數(shù)、工作氣氛、樣品平整度以及針尖雜散場(chǎng)等因素對(duì)磁疇成像的影響;針對(duì)磁力像和形貌像相互干擾的現(xiàn)象,通過理論分析和實(shí)驗(yàn)手段研究了產(chǎn)生的機(jī)理和消除干擾的方法.本部分的工作為研究納米軟磁薄膜的磁疇結(jié)構(gòu)打下了基礎(chǔ),提供了有效的研究手段.利用磁力顯微鏡對(duì)制備態(tài)TbFe軟磁薄膜的磁疇結(jié)構(gòu)進(jìn)行了研究,考察了薄膜厚度對(duì)Tb Fe薄膜磁疇結(jié)構(gòu)的影響,
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