高功率半導(dǎo)體激光器陣列參數(shù)測試儀研制.pdf

1、對于高功率激光器陣列參數(shù)的測量，一般采用光功率計、驅(qū)動電流源、光譜分析儀等設(shè)備組合而成一個激光器測試儀器，它不僅體積大、不能連續(xù)測量、費工費時、自動化程度低，而且因為由于半導(dǎo)體激光器陣列發(fā)光區(qū)域很寬、發(fā)散角較大，一般的光功率計和光譜分析儀的接收口有限，無法對其進行精確測量。本文介紹的高功率半導(dǎo)體激光器陣列參數(shù)測試系統(tǒng)，采用高精度的數(shù)據(jù)采集技術(shù)、強大的數(shù)據(jù)處理技術(shù)及精密機械定位技術(shù)，可對半導(dǎo)體激光器陣列的P-I曲線(Power-Curre

2、nt曲線即光功率-電流曲線)、V-I曲線(Voltage-Current曲線即電壓-電流曲線)、光譜特性曲線及相關(guān)參數(shù)自動進行測試。 系統(tǒng)的顯著特點為： 1、可實現(xiàn)連續(xù)測試，測試速度達(dá)3支/分； 2、高可靠性脈沖驅(qū)動電源，使受試器件在測試過程中不會意外受損； 3、采用半導(dǎo)體致冷器為執(zhí)行元件的恒溫測試臺，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性； 4、系統(tǒng)軟件部分設(shè)計采用Windows風(fēng)格，用戶界面友好，易于顯示、存