ZnO納米線-片的MBE法制備及結構和光學特性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、ZnO 作為一種優(yōu)異的光電功能材料,在眾多領域如太陽能電池、發(fā)光二極管、氣敏傳感器等方面有著廣泛的應用,又由于具有生物兼容性,在生命科學領域也有著重要的應用。為了滿足不同需求,人們利用各種生長方法制備了豐富多彩的ZnO 納米結構。
   分子束外延(MBE)方法在制備高質量ZnO及其摻雜薄膜材料做了大量的研究工作。一方面,MBE系統(tǒng)處于(超)高真空中,能有效地避免其他雜質對樣品的干擾;另一方面,MBE法可以通過精確地調控源材料的

2、蒸發(fā)速率和氣體流量等條件,進一步地控制納米材料的生長。本論文主要介紹了利用氧等離子體輔助MBE(P-MBE)法制備ZnO 納米線/片及其性能研究。主要的研究結果如下:
   1.討論了幾種生長因素對ZnO 納米材料的影響,包括襯底溫度、催化劑Au 顆粒的尺寸、O2的流量和生長時間。結果顯示,襯底溫度較低時,ZnO的XRD 主峰強度較高,而PL譜則相反;催化劑Au 在退火后,其尺寸約為20~200nm;當O2 流量為5.2sccm

3、 時,制備出ZnO薄膜結構,當O2 流量為5.8sccm時,能制備出ZnO 納米線;隨著生長時間的增加,PL譜的缺陷峰減弱,說明樣品缺陷減少。
   2.利用P-MBE 方法,以1nm 厚的Au薄膜為催化劑,基于氣-液-固(VLS)機制實現了低溫ZnO 納米線陣列在Si(111)襯底表面的生長。FE-SEM 結果顯示ZnO 納米線陣列整齊地、稠密地垂直生長在襯底上,其直徑為20-30nm,長度約為200nm。XRD和HRTEM

4、結果表明ZnO 納米線為六方纖鋅礦結構,具有沿C軸方向的擇優(yōu)取向。室溫PL譜顯示在380nm 附近有強烈ZnO 本征發(fā)射峰,475-650nm 可見光區(qū)域有較強的發(fā)射峰。探討了ZnO 納米線陣列的生長過程。
   3.采用P-MBE的方法制備了高質量的ZnO 納米片。FE-SEM 顯示ZnO 稠密地生長在Si(111)襯底上,分布著許多短棒。ZnO 納米短棒上粘附了大量的納米片。這些納米片輪廓清晰,為六邊形纖鋅礦結構。納米片的尺

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