光電雷達(dá)掃描機(jī)構(gòu)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、嵌入式開發(fā)是涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)、半導(dǎo)體技術(shù)和電子技術(shù)等多門知識的研究領(lǐng)域。由于嵌入式系統(tǒng)具有體積小、性能強(qiáng)、功耗低、可靠性高以及面向行業(yè)應(yīng)用的突出特征,目前已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用到軍事國防、自動(dòng)化、儀器儀表等方面。 嵌入式系統(tǒng)的核心是嵌入式處理器,ARM處理器是目前公認(rèn)的業(yè)界領(lǐng)先的32位嵌入式RISC微處理?;贏RM7的嵌入式處理S3C44B0X提供了豐富的內(nèi)置部件,具有低功耗,低成本,高性能的特點(diǎn),特別適用于小型的監(jiān)控設(shè)備。uC/OS

2、-II是一種專門為微控制器設(shè)計(jì)的強(qiáng)占式多任務(wù)實(shí)時(shí)嵌入式操作系統(tǒng)(RTOS),具有可裁減,可移植,可固化,代碼簡單、開源、小體積、編程語言兼容性好等優(yōu)點(diǎn)。 本文通過對ARM和嵌入式操作系統(tǒng)的研究,研制了基于S3C44B0X和實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)uC/OS-II的光電雷達(dá)掃描機(jī)構(gòu)測試儀器。本文主要完成以下工作: 1)本文探討了嵌入式技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展,介紹了嵌入式處理器ARM的體系和結(jié)構(gòu),提出了光電雷達(dá)掃描機(jī)構(gòu)測試系統(tǒng)總體方案。

3、 2)設(shè)計(jì)了光電雷達(dá)掃描機(jī)構(gòu)測試系統(tǒng)的硬件平臺。該平臺包括以S3C44B0X為核心的控制模塊、光電雷達(dá)掃描機(jī)構(gòu)接口的頻率發(fā)生電路模塊、角度碼接收和電機(jī)控制輸出模塊、用戶接口的鍵盤與LCD顯示模塊。 3)探討了主板的印制電路板的電磁兼容設(shè)計(jì),完成了測試系統(tǒng)的原理圖和PCB板的設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了硬件主板的焊接與調(diào)試。 4)開發(fā)了基于該測試系統(tǒng)硬件平臺的引導(dǎo)嵌入式操作系統(tǒng)的啟動(dòng)代碼,移植了嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)uC/OS-II,同時(shí)詳

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