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文檔簡介
1、 本文為深入理解超聲鍵合的鍵合本質(zhì)和鍵合機理以及器件在服役過程中鍵合點界面的組織演化行為,采用高溫老化的可靠性試驗方法,對鍵合點界面進行了基于金屬學理論的研究,采用了電子掃描電鏡(SEM)及X射線能譜(EDX)分析了直徑為25μm的Al+1﹪Si引線與Au/Ni/Cu焊盤鍵合后以及老化過程中界面和鍵合點上引線的冶金行為。通過試驗發(fā)現(xiàn):接頭的形成始于鍵合點周邊,超聲引線鍵合的連接本質(zhì)是壓力使引線發(fā)生塑性流動導致界面處Ni元素與Al元
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