閃存的優(yōu)化測(cè)試方法.pdf

1、眾所周知，閃存的發(fā)展從容量到速度都超乎人們想象。測(cè)試就相應(yīng)地處在越來越重要的地位，因?yàn)楫a(chǎn)品的發(fā)展使得測(cè)試時(shí)間越來越長(zhǎng)，對(duì)測(cè)試設(shè)備體積和速度的要求也越來越高。測(cè)試在半導(dǎo)體行業(yè)中一直是比較昂貴的。測(cè)試并不決定或者影響產(chǎn)品質(zhì)量，所以不會(huì)為產(chǎn)品帶來任何附加價(jià)值。測(cè)試的目的，是通過失效產(chǎn)品以發(fā)現(xiàn)制造工藝中的缺陷，并及時(shí)找到補(bǔ)救或者持續(xù)改進(jìn)的方法以減少對(duì)終端客戶的影響或者提高產(chǎn)品生產(chǎn)率。在開發(fā)和測(cè)試存儲(chǔ)器件方面，工程師面臨著許多挑戰(zhàn)。要獲得更低的消

2、費(fèi)價(jià)格，就要不斷削減測(cè)試成本和時(shí)間。從設(shè)備而言，動(dòng)輒上百萬美金的設(shè)備不容易進(jìn)行測(cè)試上的升級(jí)，而且即使升級(jí)價(jià)格也非常昂貴，通常為企業(yè)所不取。 本文所研究的TTR方法是基于產(chǎn)品原理的，并不從基本上對(duì)測(cè)試設(shè)備做出任何改進(jìn)，而是通過軟件的設(shè)計(jì)方法結(jié)合產(chǎn)品工作原理，實(shí)現(xiàn)高效準(zhǔn)確地完成對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量測(cè)試。相對(duì)歐美而言，由于存儲(chǔ)器產(chǎn)品的整體發(fā)展程度早于國(guó)內(nèi)所以國(guó)外的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法也比較先進(jìn)。通過對(duì)于產(chǎn)品測(cè)試pattern的設(shè)計(jì)來優(yōu)化測(cè)試時(shí)間

3、的方法在多種測(cè)試方法著作中都有談及，但是由于產(chǎn)品原理不同，所以所應(yīng)用的優(yōu)化方法也大相徑庭，但是無論如何，測(cè)試pattern的優(yōu)化已經(jīng)成為存儲(chǔ)器乃至整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)目前所廣泛采用的測(cè)試優(yōu)化方法之課題研究的目標(biāo)為存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)備，閃存產(chǎn)品以及測(cè)試所用到的測(cè)試模版。研究?jī)?nèi)容是針對(duì)產(chǎn)品原理，測(cè)試流程和主要的失效模式，并根據(jù)測(cè)試原理和經(jīng)驗(yàn)設(shè)計(jì)出最優(yōu)的測(cè)試模版以達(dá)到節(jié)省測(cè)試時(shí)間提高測(cè)試效率的目的由于測(cè)試費(fèi)用昂貴，如何降低測(cè)試成本一直是工廠所優(yōu)先考慮的問