NAND閃存卡低成本測(cè)試方案開(kāi)發(fā)和實(shí)現(xiàn).pdf

1、集成電路測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)的一個(gè)重要組成部分,它貫穿芯片設(shè)計(jì)、制造、封裝、應(yīng)用的全過(guò)程。測(cè)試成本在芯片成本中占了很大的比列,如何降低測(cè)試成本是芯片制造商、設(shè)計(jì)和測(cè)試人員一直考慮的重點(diǎn)。
　　在當(dāng)今的集成電路產(chǎn)品中,閃存和閃存卡占據(jù)了一定的市場(chǎng)比例。其相應(yīng)的測(cè)試方法學(xué)和測(cè)試設(shè)備也成了人們關(guān)注的焦點(diǎn)。本文針對(duì)NAND閃存卡低成本測(cè)試需求開(kāi)發(fā)和實(shí)現(xiàn)NAND閃存卡低成本測(cè)試方案。該方案主要開(kāi)發(fā)和實(shí)現(xiàn)低成本NAND閃存卡測(cè)試機(jī)硬件和軟件。<

2、br>　　在該方案中,為了提高測(cè)試速度和穩(wěn)定性,采用了以下辦法:
　　1、使用專用資源結(jié)構(gòu),16個(gè)單元并行測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
　　2、使用PCIe傳輸功能測(cè)試信號(hào)和數(shù)據(jù),設(shè)計(jì)PCIe適配器、PCIe轉(zhuǎn)換器、PCIe線,提高傳輸測(cè)試信號(hào)和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　3、測(cè)試主板成對(duì)稱結(jié)構(gòu),包括2個(gè)邏輯板。1個(gè)邏輯板包括8個(gè)被測(cè)器件,1個(gè)測(cè)試主板包括16個(gè)被測(cè)器件,提高傳輸測(cè)試信號(hào)和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　4、控制

3、端電腦和客戶端電腦使用穩(wěn)定的配置系統(tǒng),兩個(gè)硬盤使用Raid0模式,提高傳輸數(shù)據(jù)的速度。
　　5、分揀機(jī)和測(cè)試機(jī)通信,使用GPIB模式代替RS232模式,避免在通信中傳輸信號(hào)和數(shù)據(jù)中斷,提高傳輸信號(hào)和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　6、在測(cè)試程序中使用多線程,節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
　　本文主要完成了以下工作:
　　1、分析了閃存和閃存卡的結(jié)構(gòu)、性能、工作原理、測(cè)試流程等。
　　2、NAND閃存卡低成本測(cè)試方案設(shè)計(jì)思路和測(cè)

4、試系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)。
　　3、硬件選擇、開(kāi)發(fā)、實(shí)現(xiàn),軟件開(kāi)發(fā)、調(diào)試、優(yōu)化。
　　4、低成本NAND閃存卡測(cè)試機(jī)硬件成本核算。
　　5、系統(tǒng)完成研制后的集成調(diào)試和量產(chǎn)測(cè)試維護(hù)。
　　6、測(cè)試結(jié)果分析。
　　7、低成本NAND閃存卡測(cè)試機(jī)和其他NAND閃存卡測(cè)試機(jī)成本比較。
　　NAND閃存卡低成本測(cè)試方案已經(jīng)應(yīng)用于量產(chǎn),解決了測(cè)試系統(tǒng)不穩(wěn)定、測(cè)試時(shí)間比正常測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、部分產(chǎn)品良率不合格等問(wèn)題,提高了測(cè)試穩(wěn)定

5、性,達(dá)到了低成本測(cè)試NAND閃存卡的目的。低成本NAND閃存卡測(cè)試機(jī)和其他NAND閃存卡測(cè)試機(jī)在機(jī)臺(tái)的折舊成本、機(jī)臺(tái)的維護(hù)成本、機(jī)臺(tái)的產(chǎn)量、單個(gè)NAND閃存卡的測(cè)試成本方面比較,顯示出低成本NAND閃存卡測(cè)試機(jī)的優(yōu)越性。
　　經(jīng)過(guò)量產(chǎn)檢驗(yàn),NAND閃存卡低成本測(cè)試方案降低了測(cè)試成本,提高了生產(chǎn)效率,能滿足產(chǎn)品的測(cè)試需求,創(chuàng)造了經(jīng)濟(jì)效益,增強(qiáng)了企業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力,為NAND閃存卡低成本測(cè)試提供了一種有效的方案,具有應(yīng)用價(jià)值和實(shí)踐意義。