NAND閃存卡低成本測試方案開發(fā)和實(shí)現(xiàn).pdf

1、集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)的一個重要組成部分,它貫穿芯片設(shè)計、制造、封裝、應(yīng)用的全過程。測試成本在芯片成本中占了很大的比列,如何降低測試成本是芯片制造商、設(shè)計和測試人員一直考慮的重點(diǎn)。
　　在當(dāng)今的集成電路產(chǎn)品中,閃存和閃存卡占據(jù)了一定的市場比例。其相應(yīng)的測試方法學(xué)和測試設(shè)備也成了人們關(guān)注的焦點(diǎn)。本文針對NAND閃存卡低成本測試需求開發(fā)和實(shí)現(xiàn)NAND閃存卡低成本測試方案。該方案主要開發(fā)和實(shí)現(xiàn)低成本NAND閃存卡測試機(jī)硬件和軟件。<

2、br>　　在該方案中,為了提高測試速度和穩(wěn)定性,采用了以下辦法:
　　1、使用專用資源結(jié)構(gòu),16個單元并行測試,節(jié)省測試時間。
　　2、使用PCIe傳輸功能測試信號和數(shù)據(jù),設(shè)計PCIe適配器、PCIe轉(zhuǎn)換器、PCIe線,提高傳輸測試信號和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　3、測試主板成對稱結(jié)構(gòu),包括2個邏輯板。1個邏輯板包括8個被測器件,1個測試主板包括16個被測器件,提高傳輸測試信號和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　4、控制

3、端電腦和客戶端電腦使用穩(wěn)定的配置系統(tǒng),兩個硬盤使用Raid0模式,提高傳輸數(shù)據(jù)的速度。
　　5、分揀機(jī)和測試機(jī)通信,使用GPIB模式代替RS232模式,避免在通信中傳輸信號和數(shù)據(jù)中斷,提高傳輸信號和數(shù)據(jù)的速度和穩(wěn)定性。
　　6、在測試程序中使用多線程,節(jié)省測試時間。
　　本文主要完成了以下工作:
　　1、分析了閃存和閃存卡的結(jié)構(gòu)、性能、工作原理、測試流程等。
　　2、NAND閃存卡低成本測試方案設(shè)計思路和測

4、試系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計。
　　3、硬件選擇、開發(fā)、實(shí)現(xiàn),軟件開發(fā)、調(diào)試、優(yōu)化。
　　4、低成本NAND閃存卡測試機(jī)硬件成本核算。
　　5、系統(tǒng)完成研制后的集成調(diào)試和量產(chǎn)測試維護(hù)。
　　6、測試結(jié)果分析。
　　7、低成本NAND閃存卡測試機(jī)和其他NAND閃存卡測試機(jī)成本比較。
　　NAND閃存卡低成本測試方案已經(jīng)應(yīng)用于量產(chǎn),解決了測試系統(tǒng)不穩(wěn)定、測試時間比正常測試時間長、部分產(chǎn)品良率不合格等問題,提高了測試穩(wěn)定

5、性,達(dá)到了低成本測試NAND閃存卡的目的。低成本NAND閃存卡測試機(jī)和其他NAND閃存卡測試機(jī)在機(jī)臺的折舊成本、機(jī)臺的維護(hù)成本、機(jī)臺的產(chǎn)量、單個NAND閃存卡的測試成本方面比較,顯示出低成本NAND閃存卡測試機(jī)的優(yōu)越性。
　　經(jīng)過量產(chǎn)檢驗(yàn),NAND閃存卡低成本測試方案降低了測試成本,提高了生產(chǎn)效率,能滿足產(chǎn)品的測試需求,創(chuàng)造了經(jīng)濟(jì)效益,增強(qiáng)了企業(yè)的競爭力,為NAND閃存卡低成本測試提供了一種有效的方案,具有應(yīng)用價值和實(shí)踐意義。