電路板板載元器件檢測(cè)系統(tǒng)研究.pdf

1、電路板板載元器件自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是電子行業(yè)產(chǎn)品檢測(cè)領(lǐng)域一個(gè)重要的研究課題。它旨在對(duì)采用微型化元器件的高密度電路板上的元器件非接觸地高速、高精度識(shí)別與缺陷檢測(cè)，從而克服人工檢測(cè)勞動(dòng)強(qiáng)度大、可靠性差(易發(fā)生漏檢和誤檢)等缺點(diǎn)，提高電子產(chǎn)品質(zhì)量與生產(chǎn)效率。 本文對(duì)電路板板載元器件自動(dòng)光學(xué)技術(shù)的現(xiàn)狀及發(fā)展進(jìn)行研究，并在對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)的各個(gè)構(gòu)成部分進(jìn)行研究的基礎(chǔ)上，構(gòu)建了簡(jiǎn)單的檢測(cè)系統(tǒng)。 針對(duì)PCBA圖像存在的光照不勻問(wèn)題，采用改進(jìn)的同態(tài)

2、濾波方法進(jìn)行圖像預(yù)處理：對(duì)目標(biāo)圖像進(jìn)行多層小波分解，對(duì)各層高低頻系數(shù)濾波處理，減弱低頻系數(shù)，增強(qiáng)高頻系數(shù)，然后進(jìn)行小波重構(gòu)，從而達(dá)到光照不均校正的目的。結(jié)果證明該方法在h0I系統(tǒng)中具有很強(qiáng)的實(shí)用性。 基于電路板Mark點(diǎn)特征，改進(jìn)Hough變換定位方法，減少參與運(yùn)算的點(diǎn)數(shù)及維數(shù)，快速定位Mark點(diǎn)標(biāo)記。實(shí)驗(yàn)表明該方法定位準(zhǔn)確，運(yùn)算時(shí)間大大降低。 在特征數(shù)據(jù)庫(kù)建立方面，依據(jù)CAD設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)文件導(dǎo)出元器件位置報(bào)表文件，在該文件