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1、隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模不斷增大,其出現(xiàn)故障的可能性也相應(yīng)增加,這導(dǎo)致故障測(cè)試變得越來(lái)越重要。準(zhǔn)確快速地檢測(cè)出故障,可以加快電路設(shè)計(jì)的進(jìn)程,進(jìn)而產(chǎn)生巨大的經(jīng)濟(jì)效益。二元判決圖是一種表示布爾函數(shù)的有效方法,在計(jì)算機(jī)科學(xué)以及數(shù)字電路與系統(tǒng)等領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用。本文主要研究二元判決圖在組合電路測(cè)試中的應(yīng)用。 首先,介紹了二元判決圖的原理,說(shuō)明了變量排序?qū)τ诙袥Q圖體積的影響。在此基礎(chǔ)上,提出了一種啟發(fā)式變量排序算法,它能夠用較短的運(yùn)算時(shí)
2、間得到良好的變量排序。 其次,介紹了二元判決圖的操作,舉例說(shuō)明使用apply與reduce算法建立邏輯函數(shù)的二元判決圖方法,比較了該方法和ITE算法的優(yōu)缺點(diǎn),并對(duì)ITE算法提出了兩條改進(jìn)的措施。 再次,研究了二元判決圖在組合電路的故障檢測(cè)中的應(yīng)用。二元判決圖測(cè)試生成方法克服了傳統(tǒng)測(cè)試方法需要多次回溯的缺點(diǎn),減少了測(cè)試生成的時(shí)間,節(jié)省了測(cè)試的成本。但是現(xiàn)有的二元判決圖測(cè)試生成方法復(fù)雜度比較高,本文將BDD與通路敏化法相結(jié)合
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