版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、RFID(射頻識(shí)別)是時(shí)下深受矚目的最為先進(jìn)的非接觸感應(yīng)識(shí)別技術(shù),廣泛應(yīng)用于無(wú)線商務(wù)、身份識(shí)別、制造、交通、物流等領(lǐng)域。作為最終將取代條形碼的技術(shù),其大規(guī)模廣泛應(yīng)用的瓶頸之一在于RFID電子標(biāo)簽本身的價(jià)格居高不下。隨著芯片和天線的制造成本日漸下降,封裝所占成本相對(duì)逐漸提高,因此采用倒裝芯片技術(shù)利用ACA(各向異性導(dǎo)電膠)低成本地封裝制造電子標(biāo)簽的方法受到了工業(yè)界的廣泛關(guān)注和應(yīng)用。
本文開(kāi)展了ACA封裝電子標(biāo)簽的工藝與可靠性
2、試驗(yàn)研究。熱壓時(shí)間固定為10s,特別采用正面噴金的射頻芯片設(shè)計(jì)制作標(biāo)簽試樣測(cè)量接觸電阻,確定合適的壓力為1.4MPa,分別試驗(yàn)了三種ACA 膠水封裝電子標(biāo)簽,考察不同的熱壓溫度對(duì)標(biāo)簽的電學(xué)、機(jī)械力學(xué)和射頻識(shí)別響應(yīng)性能的耐受環(huán)境(HTH,85℃,85% RH,168h和HTS,85℃,168h)可靠性的影響,也設(shè)計(jì)了卷繞試驗(yàn)、靜拉伸和純彎曲試驗(yàn)以評(píng)價(jià)柔性標(biāo)簽?zāi)褪苷蹞蠌澢鷳?yīng)力的可靠性。試驗(yàn)結(jié)果表明:對(duì)于采用鍍鎳高分子微球的ACA-1,當(dāng)熱壓
3、溫度低于160 ℃時(shí),膠水沒(méi)能良好固化,粘結(jié)強(qiáng)度低,接觸電阻又高。當(dāng)溫度高于170 ℃時(shí),經(jīng)過(guò)HTH試驗(yàn)后接觸電阻升高較多,且粘結(jié)強(qiáng)度下降,所以綜合比較得出160℃是較適合的熱壓溫度;在適合的熱壓溫度120℃下,含有鎳顆粒的ACA-2封裝的柔性標(biāo)簽的平均接觸電阻約4Ω,但經(jīng)過(guò)HTH試驗(yàn)后增大了1~4倍,而卷繞試驗(yàn)后僅升高約50%,所以ACA-2膠水適用于柔性的不耐溫的PET天線基板。卷繞試驗(yàn)的破壞力主要來(lái)自于純彎曲,靜拉伸沒(méi)有任何破壞力
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 電子標(biāo)簽油墨天線制作與Inlay封裝的研究.pdf
- 電子封裝快速熱疲勞可靠性的研究.pdf
- 高溫電子封裝界面失效分析及可靠性研究.pdf
- 電子標(biāo)簽封裝機(jī)收送料模塊與檢測(cè)模塊的研制.pdf
- 基于各向異性導(dǎo)電膠封裝的RFID標(biāo)簽可靠性研究.pdf
- 電子標(biāo)簽天線的研究與設(shè)計(jì).pdf
- 電子標(biāo)簽可生產(chǎn)性及工藝選擇性研究.pdf
- LED封裝及可靠性研究.pdf
- 微電子封裝高聚物熱、濕-機(jī)械特性及其封裝可靠性研究.pdf
- 車載電子標(biāo)簽的研究與設(shè)計(jì).pdf
- 3D封裝工藝及可靠性研究.pdf
- 電子標(biāo)簽封裝設(shè)備的溫度壓力控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
- IC封裝的銅線鍵合工藝及其可靠性研究.pdf
- NAND閃存芯片封裝技術(shù)與可靠性研究.pdf
- 射頻識(shí)別電子標(biāo)簽的研究與設(shè)計(jì).pdf
- BGA封裝的可靠性模擬與研究.pdf
- PBGA電子封裝聚合物熱—濕力學(xué)特性及封裝可靠性的研究.pdf
- 疊層芯片封裝的可靠性研究.pdf
- 高可靠性電子封裝中防潮薄膜技術(shù)的研究.pdf
- 電子封裝中熱可靠性的有限元分析.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論