AWG器件測(cè)試參數(shù)分析與可靠性實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、全光通信是未來(lái)通信的發(fā)展趨勢(shì)，密集波分復(fù)用（DWDM）技術(shù)是光通信中的關(guān)鍵技術(shù)，而復(fù)用器/解復(fù)用器（MUX/DMUX）又是DWDM系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件。陣列波導(dǎo)光柵（AWG）作為MUX/DMUX中的佼佼者，重要性自不必說(shuō)。然而，涉及AWG測(cè)試及可靠性方面的研究十分有限，本文的研究正好填補(bǔ)了這一空白。
　　本文研究?jī)?nèi)容包括以下幾個(gè)方面：
　　首先，從PDL產(chǎn)生的原理出發(fā)，對(duì)目前生產(chǎn)測(cè)試上普遍使用的計(jì)算方法做了詳細(xì)介紹，結(jié)合公司目前

2、使用的四態(tài)法即Mueller矩陣法，使用現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)量了1×32通道系列AWG產(chǎn)品。由得到的原始數(shù)據(jù)，計(jì)算出了第一通道的偏振相關(guān)損耗（PDL）值。隨后，全面分析了該測(cè)試系統(tǒng)，計(jì)算了各個(gè)相關(guān)器件對(duì)PDL測(cè)試指標(biāo)的影響。在此基礎(chǔ)上對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化、改進(jìn)，目前已經(jīng)應(yīng)用于生產(chǎn)實(shí)踐，有效地提高了測(cè)試AWG產(chǎn)品PDL值的準(zhǔn)確性。
　　其次對(duì)AWG器件的可靠性實(shí)驗(yàn)（溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、高溫高濕實(shí)驗(yàn)）進(jìn)行了研究。運(yùn)用EXCEL工具，對(duì)其實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)

3、行處理，根據(jù)生成圖像判定產(chǎn)品的可靠性。還針對(duì)溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)中光源不穩(wěn)定的現(xiàn)象，提出了提高光源穩(wěn)定性的實(shí)驗(yàn)方案，就是在光路中光源后面加入一光學(xué)衰減器（Agilent-HA9），當(dāng)光源不穩(wěn)定的時(shí)候，對(duì)光源輸出功率做動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，從而得到穩(wěn)定輸出的光功率。實(shí)驗(yàn)證實(shí)，其穩(wěn)定精度可達(dá)到0.1dB。最后，選取3個(gè)AWG產(chǎn)品做了高溫高濕實(shí)驗(yàn)，經(jīng)過(guò)168小時(shí)和336小時(shí)兩次試驗(yàn)后,AWG芯片的性能發(fā)生了很明顯的變化。給出了實(shí)驗(yàn)前后的數(shù)據(jù)、參數(shù)比較圖,為我們分