已閱讀1頁,還剩63頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀
版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、本文研究了根據(jù)特定的要求將一個(gè)CMOS 0.18工藝輸入信號(hào)為3.3V和5V混合的IO標(biāo)準(zhǔn)單元庫面積縮小的過程。在縮小之前IO庫中基本的單元尺寸是69um X 380um。要求規(guī)定新的IO標(biāo)準(zhǔn)單元庫的最大輸入信號(hào)是3.3V,IO庫中的基本單元尺寸為寬不大于80um,長(zhǎng)不大于250um。IO單元的面積主要決定于它的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu),壓縮以前CMOS基本單元庫用的是級(jí)聯(lián)的MOS管(stacked MOS)ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)。這個(gè)結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)是,不采
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- MOS器件ESD特性研究.pdf
- MCU的ESD測(cè)試方法改進(jìn)及其IO防護(hù)設(shè)計(jì)研究.pdf
- 級(jí)聯(lián)高壓變頻器電壓空間矢量研究和設(shè)計(jì).pdf
- 基于SCR和LDMOS的高壓ESD器件研究與設(shè)計(jì).pdf
- 基于上華0.6μmcmos工藝的esd結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
- 基于襯底驅(qū)動(dòng)MOS管的帶隙基準(zhǔn)電壓源的分析與設(shè)計(jì).pdf
- 基于20V NLDMOS結(jié)構(gòu)的ESD防護(hù)器件的設(shè)計(jì).pdf
- 基于高壓工藝和MM模式下的ESD防護(hù)設(shè)計(jì)與研究.pdf
- 射頻LDMOS器件結(jié)構(gòu)和ESD保護(hù)研究.pdf
- iSCSI環(huán)境下基于元數(shù)據(jù)壓縮的IO性能優(yōu)化.pdf
- 基于電壓檢測(cè)型級(jí)聯(lián)H橋有源濾波器的研究.pdf
- 基于關(guān)鍵點(diǎn)和級(jí)聯(lián)結(jié)構(gòu)的人臉檢測(cè)研究.pdf
- 級(jí)聯(lián)電壓源型超導(dǎo)儲(chǔ)能裝置的研究.pdf
- ESD保護(hù)柵結(jié)構(gòu)的Trench MOSFET設(shè)計(jì)制造.pdf
- 基于DSP和FPGA的級(jí)聯(lián)多電平逆變器的研究與設(shè)計(jì).pdf
- 基于網(wǎng)絡(luò)接口的離散IO模塊設(shè)計(jì).pdf
- ESD的預(yù)防和控制.pdf
- 基于CMOS工藝的全芯片ESD設(shè)計(jì).pdf
- 亞微米和深亞微米IC中的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)研究.pdf
- 基于PLC的硫磺回收裝置ESD的研究與設(shè)計(jì).pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論