2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、近年來,由于微電子技術(shù)的快速發(fā)展和嵌入式系統(tǒng)、SoC等高密度器件的廣泛應(yīng)用,電路系統(tǒng)的復(fù)雜性以驚人的速度增長,系統(tǒng)中各個(gè)功能單元之間的連線間距越來越細(xì)密?;谔结樀碾娐废到y(tǒng)測試方法越來越難以滿足新的發(fā)展要求。作為一種結(jié)構(gòu)插入的可測性技術(shù),邊界掃描測試(BST)技術(shù)將邊界掃描寄存器單元安插在集成電路內(nèi)部的每個(gè)引腳上,其作用相當(dāng)于設(shè)置了施加激勵和觀測響應(yīng)的內(nèi)建虛擬探頭。由于利用BST技術(shù)可大大提高數(shù)字系統(tǒng)的可觀性和可控性,降低測試難度,因此

2、設(shè)計(jì)研制一種能夠?qū)?shù)字系統(tǒng)進(jìn)行邊界掃描測試的測試工具是十分必要的。本文給出了基于USB接口的邊界掃描控制器的設(shè)計(jì)。
  本文首先對邊界掃描技術(shù)的國際標(biāo)準(zhǔn)IEEE1149.1進(jìn)行了簡單的介紹。在此基礎(chǔ)上,重點(diǎn)討論了邊界掃描技術(shù)在板級測試領(lǐng)域的相關(guān)應(yīng)用,并對板級測試過程和矢量生成算法進(jìn)行了介紹。邊界掃描控制器的硬件設(shè)計(jì)以DSP為主控單元,負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)的控制和轉(zhuǎn)換。在對當(dāng)前的USB接口開發(fā)現(xiàn)狀進(jìn)行調(diào)研之后,采用CY7C68013及其相關(guān)軟件

3、作為USB數(shù)據(jù)傳輸部分的解決方案。利用VerilogHDL語言,采用自頂向下的方法實(shí)現(xiàn)了測試存取通道(TAP)的控制邏輯,降低了DSP的設(shè)計(jì)難度。根據(jù)硬件設(shè)計(jì)特點(diǎn),本文給出了能夠與硬件進(jìn)行通信的測試執(zhí)行程序。另外,結(jié)合板級測試的相關(guān)理論和方法,提出了一套板級測試解決方案,包括掃描鏈完整性測試、互連測試和簇測試。在VisualC++環(huán)境下,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了板級測試矢量生成軟件和故障診斷軟件。最后,利用WindowsDDK開發(fā)包設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了用于此

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