2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩85頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、如今的數(shù)字電子系統(tǒng),大量地采用了諸如PGA、BGA、SMT、MCM等高度封裝器件,使得PCB上各器件之間的連線間距越來(lái)越細(xì)密。同時(shí),數(shù)字系統(tǒng)中可供測(cè)試的結(jié)點(diǎn)間距亦越來(lái)越小,有的甚至成為隱性的不可達(dá)結(jié)點(diǎn),使得基于探針的傳統(tǒng)測(cè)試方法將難堪重任。 本文設(shè)計(jì)了一個(gè)具有USB接口的邊界掃描測(cè)試儀。用戶通過(guò)PC端的測(cè)試軟件,將測(cè)試指令和測(cè)試矢量發(fā)送給測(cè)試儀。測(cè)試儀將測(cè)試指令和測(cè)試矢量作用于待測(cè)電路,然后讀出其測(cè)試響應(yīng)。最后,測(cè)試儀將測(cè)試響應(yīng)

2、返回PC端的應(yīng)用程序。 本文將設(shè)計(jì)分為如下幾個(gè)部分: ①邊界掃描測(cè)試儀的硬件設(shè)計(jì)。硬件設(shè)計(jì)包括:?jiǎn)纹瑱C(jī)與USB總線的接口設(shè)計(jì),以及單片機(jī)與邊界掃描測(cè)試總線的接口設(shè)計(jì)等方面的內(nèi)容。 ②邊界掃描測(cè)試儀的固件設(shè)計(jì)。固件設(shè)計(jì)包括:邊界掃描測(cè)試儀與PC的USB通信,邊界掃描測(cè)試儀的主體功能實(shí)現(xiàn)等方面的內(nèi)容。 ③界掃描測(cè)試儀的USB驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)。USB驅(qū)動(dòng)程序?qū)崿F(xiàn)設(shè)備的枚舉和完成應(yīng)用程序?qū)吔鐠呙铚y(cè)試儀的通信請(qǐng)求等方

3、面的功能。 ④邊界掃描測(cè)試儀的應(yīng)用程序設(shè)計(jì)。應(yīng)用程序?yàn)橛脩籼峁┮粋€(gè)操作界面。設(shè)計(jì)結(jié)果表明從邊界掃描測(cè)試儀硬件、固件、USB驅(qū)動(dòng)程序,到PC端應(yīng)用程序的整個(gè)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)工作完好,符合設(shè)計(jì)目標(biāo)。另外,由于采用了USB接口技術(shù),本測(cè)試儀還具有如下的優(yōu)點(diǎn): ①即插即用功能。 ②從總線上取電,免除了另外供電的麻煩。 ③完全外置設(shè)計(jì),避免了因設(shè)備內(nèi)置引起的電磁干擾、物理接觸不可靠、容易因過(guò)熱死機(jī)等問(wèn)題。

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論