c-fos基因在大鼠創(chuàng)傷性顱腦損傷中不同階段表達(dá)水平與細(xì)胞凋亡關(guān)系的研究.pdf

1、引言: 細(xì)胞凋亡在顱腦創(chuàng)傷所致的神經(jīng)細(xì)胞死亡中占據(jù)了重要的地位。細(xì)胞凋亡即機(jī)體細(xì)胞的膜信號(hào)系統(tǒng)在某些生理性或病理性因素誘導(dǎo)下被激活，進(jìn)而啟動(dòng)了調(diào)控細(xì)胞凋亡的程序基因，導(dǎo)致細(xì)胞的自我破壞或死亡。對(duì)顱腦創(chuàng)傷后細(xì)胞凋亡關(guān)鍵基因和通路的研究，有望發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵的調(diào)控靶點(diǎn)從而為進(jìn)一步的基因治療選擇合適的切入點(diǎn)。 目的: 探討腦外傷后不同階段的神經(jīng)細(xì)胞凋亡與c—fos基因表達(dá)Fos蛋白的水平，探討c—fos基因在顱腦創(chuàng)傷后凋亡的作用。 材

2、料與方法: 以Feeney法制作大鼠顱腦外傷模型，分為實(shí)驗(yàn)組和假手術(shù)對(duì)照組，在處理后6h、24h、168h處死動(dòng)物，分別用免疫組化、TUNEL法測(cè)定腦組織Fos蛋白和神經(jīng)細(xì)胞凋亡率。 結(jié)果: 顱腦創(chuàng)傷后6h及24h大鼠腦外傷組損傷灶周圍腦組織中Fos蛋白較假手術(shù)組表達(dá)明顯增高，其與神經(jīng)細(xì)胞凋亡指數(shù)呈正相關(guān)；在慢性期168h大鼠腦外傷組損傷灶周圍腦組織中Fos蛋白表達(dá)與神經(jīng)細(xì)胞凋亡有所下降而仍高于假手術(shù)組。 結(jié)論: c—f