LED芯片檢測(cè)和分選的圖像匹配的算法研究.pdf

1、基于機(jī)器視覺的自動(dòng)定位是LED芯片檢測(cè)和分選中的一項(xiàng)重要技術(shù)。通過計(jì)算芯片模板圖像與Wafer上芯片圖像之間的位置偏置，可以獲取LED芯片電極引腳的位置坐標(biāo)。在此基礎(chǔ)上進(jìn)行芯片參數(shù)檢測(cè)，為L(zhǎng)ED芯片分選提供參數(shù)依據(jù)。本文以LED芯片的定位為研究背景，對(duì)圖像濾波、特征提取、圖像匹配等技術(shù)進(jìn)行了深入的研究，主要內(nèi)容如下：
　　 本文首先分析了現(xiàn)有的圖像匹配方法，包括歸一化灰度相關(guān)方法、SSDA方法、FFT相關(guān)匹配方法、基于圖像特征的

2、匹配方法等，總結(jié)了各種算法的優(yōu)缺點(diǎn)，提出了基于角點(diǎn)特征的點(diǎn)模式匹配算法作為本文的匹配方案。
　　 分析了中值濾波算法的不足，提出了一種自適應(yīng)中值濾波器算法，利用VC編制的程序?qū)υ肼晥D像進(jìn)行濾波，結(jié)果表明自適應(yīng)中值濾波器在濾除噪聲的同時(shí)可較好的保護(hù)圖像的角點(diǎn)特征。
　　 分析了圖像Harris和SUSAN角點(diǎn)特征的提取算法，對(duì)兩種算法提出了改進(jìn)，利用VC編制的改進(jìn)算法的程序，對(duì)LED芯片的定位標(biāo)記進(jìn)行角點(diǎn)提取，兩種算法均精