中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所

1、<p>　　中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所</p><p>　　離子探針實(shí)驗(yàn)室分析測試流程及準(zhǔn)備工作</p><p>　　大多數(shù)的項(xiàng)目都需要制靶，透射反射顯微照片，CL圖像等多個環(huán)節(jié)，最后才能進(jìn)行離子探針分析。通常情況下：</p><p>　　①請?zhí)峁┙?jīng)過分選的單顆粒礦物到制靶間準(zhǔn)備制靶。詳見制靶說明（下載鏈接 “制靶說明.doc”）。填寫離子探針樣品登記

2、單（下載鏈接 “離子探針樣品登記單.doc”）</p><p>　?、谥坪冒泻螅枰胀干涔夂头瓷涔怙@微照片。</p><p>　?、弁瓿赏阜瓷湔障嗪螅垖兴偷綄?shí)驗(yàn)室鍍金，用于掃描電鏡/電子探針照CL圖像，送靶時請說明照CL圖像用。</p><p>　　④我所掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室可提供照CL圖像的設(shè)備，也可自行聯(lián)系其他相關(guān)實(shí)驗(yàn)室照相，具體聯(lián)系方式請見制靶說明（下載鏈接

3、“制靶說明.doc”）。請注意，照CL圖像時如果電流調(diào)的太大，或者長時間在一個樣品上調(diào)焦，會燒壞樣品靶，影響離子探針分析，故CL圖像清晰度以能夠幫助選擇分析點(diǎn)為準(zhǔn)。如果需要高清晰度的CL圖像在文章中引用，可在做完離子探針分析后再照一次。</p><p>　　⑤照完CL圖像后，請將樣品靶送回制靶室，制靶技術(shù)員將樣品靶再次清洗，才能用于離子探針分析。注意，照完CL圖像后，請將樣品靶盡快送回制靶室，這樣該樣品靶才會進(jìn)入

4、等待測試的隊(duì)列名單。</p><p>　?、奕绻麑?shí)驗(yàn)室通知您將在近期上機(jī)測試，請與制靶技術(shù)員聯(lián)系確認(rèn)您的靶已經(jīng)清洗好。</p><p>　?、呱蠙C(jī)之前，請根據(jù)透射光、反射光及CL圖像綜合考慮，選擇可能要分析的樣品點(diǎn)，可多選一些備用，并標(biāo)記出來。將這些圖像分別拼接成一個整體（如圖1所示）。請注意，此時不要把分析點(diǎn)編號，因?yàn)樵趯?shí)際選點(diǎn)時，需要根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的樣品點(diǎn)。請將反射光照片拼成一個

5、整體的靶圖（如圖2所示），便于分析時尋找樣品。</p><p>　　本實(shí)驗(yàn)為表面分析，測試時儀器只能提供反射光圖像供參考，以避開裂隙。根據(jù)一次束的大小將擬分析的點(diǎn)標(biāo)在CL圖像上。來做實(shí)驗(yàn)時，請將顯微照片和CL圖像打印出來或自帶筆記本電腦方便選擇分析點(diǎn)。</p><p>　　注意：真實(shí)的樣品顆粒在樹脂靶上的狀態(tài)如圖3示意圖，CL圖像上看到的樣品是樣品的最大截面如圖3所示，而進(jìn)行SIMS分析時

6、，只能在樣品表面較平的范圍進(jìn)行。故請選擇鋯石分析點(diǎn)時，請務(wù)必留有余量，或者申請使用高空間分辨的束斑進(jìn)行分析。</p><p>　　如果您的樣品比較特殊（薄片或其他樣品），請與實(shí)驗(yàn)室聯(lián)系，確定您的流程。</p><p>　　由于本實(shí)驗(yàn)室是“中國科學(xué)院儀器設(shè)備共享平臺成員”。實(shí)驗(yàn)室本著方便用戶，方便管理，請大家申請?jiān)撈脚_的賬號。中科院儀器共享平臺網(wǎng)址是：http://caslims.issas