中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所

1、<p>　　中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所</p><p>　　離子探針實(shí)驗(yàn)室分析測(cè)試流程及準(zhǔn)備工作</p><p>　　大多數(shù)的項(xiàng)目都需要制靶，透射反射顯微照片，CL圖像等多個(gè)環(huán)節(jié)，最后才能進(jìn)行離子探針?lè)治觥ＭǔＧ闆r下：</p><p>　?、僬?qǐng)?zhí)峁┙?jīng)過(guò)分選的單顆粒礦物到制靶間準(zhǔn)備制靶。詳見(jiàn)制靶說(shuō)明（下載鏈接 “制靶說(shuō)明.doc”）。填寫(xiě)離子探針樣品登記

2、單（下載鏈接 “離子探針樣品登記單.doc”）</p><p>　?、谥坪冒泻螅枰胀干涔夂头瓷涔怙@微照片。</p><p>　?、弁瓿赏阜瓷湔障嗪?，請(qǐng)將靶送到實(shí)驗(yàn)室鍍金，用于掃描電鏡/電子探針照CL圖像，送靶時(shí)請(qǐng)說(shuō)明照CL圖像用。</p><p>　　④我所掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室可提供照CL圖像的設(shè)備，也可自行聯(lián)系其他相關(guān)實(shí)驗(yàn)室照相，具體聯(lián)系方式請(qǐng)見(jiàn)制靶說(shuō)明（下載鏈接

3、“制靶說(shuō)明.doc”）。請(qǐng)注意，照CL圖像時(shí)如果電流調(diào)的太大，或者長(zhǎng)時(shí)間在一個(gè)樣品上調(diào)焦，會(huì)燒壞樣品靶，影響離子探針?lè)治?，故CL圖像清晰度以能夠幫助選擇分析點(diǎn)為準(zhǔn)。如果需要高清晰度的CL圖像在文章中引用，可在做完離子探針?lè)治龊笤僬找淮巍?lt;/p><p>　?、菡胀闏L圖像后，請(qǐng)將樣品靶送回制靶室，制靶技術(shù)員將樣品靶再次清洗，才能用于離子探針?lè)治觥Ｗ⒁?，照完CL圖像后，請(qǐng)將樣品靶盡快送回制靶室，這樣該樣品靶才會(huì)進(jìn)入

4、等待測(cè)試的隊(duì)列名單。</p><p>　　⑥如果實(shí)驗(yàn)室通知您將在近期上機(jī)測(cè)試，請(qǐng)與制靶技術(shù)員聯(lián)系確認(rèn)您的靶已經(jīng)清洗好。</p><p>　　⑦上機(jī)之前，請(qǐng)根據(jù)透射光、反射光及CL圖像綜合考慮，選擇可能要分析的樣品點(diǎn)，可多選一些備用，并標(biāo)記出來(lái)。將這些圖像分別拼接成一個(gè)整體（如圖1所示）。請(qǐng)注意，此時(shí)不要把分析點(diǎn)編號(hào)，因?yàn)樵趯?shí)際選點(diǎn)時(shí)，需要根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的樣品點(diǎn)。請(qǐng)將反射光照片拼成一個(gè)

5、整體的靶圖（如圖2所示），便于分析時(shí)尋找樣品。</p><p>　　本實(shí)驗(yàn)為表面分析，測(cè)試時(shí)儀器只能提供反射光圖像供參考，以避開(kāi)裂隙。根據(jù)一次束的大小將擬分析的點(diǎn)標(biāo)在CL圖像上。來(lái)做實(shí)驗(yàn)時(shí)，請(qǐng)將顯微照片和CL圖像打印出來(lái)或自帶筆記本電腦方便選擇分析點(diǎn)。</p><p>　　注意：真實(shí)的樣品顆粒在樹(shù)脂靶上的狀態(tài)如圖3示意圖，CL圖像上看到的樣品是樣品的最大截面如圖3所示，而進(jìn)行SIMS分析時(shí)

6、，只能在樣品表面較平的范圍進(jìn)行。故請(qǐng)選擇鋯石分析點(diǎn)時(shí)，請(qǐng)務(wù)必留有余量，或者申請(qǐng)使用高空間分辨的束斑進(jìn)行分析。</p><p>　　如果您的樣品比較特殊（薄片或其他樣品），請(qǐng)與實(shí)驗(yàn)室聯(lián)系，確定您的流程。</p><p>　　由于本實(shí)驗(yàn)室是“中國(guó)科學(xué)院儀器設(shè)備共享平臺(tái)成員”。實(shí)驗(yàn)室本著方便用戶(hù)，方便管理，請(qǐng)大家申請(qǐng)?jiān)撈脚_(tái)的賬號(hào)。中科院儀器共享平臺(tái)網(wǎng)址是：http://caslims.issas