微束微區(qū)X射線熒光探針儀在大氣降塵顆粒物測量和評價中的應(yīng)用研究.pdf

1、大氣降塵顆粒物的成分是環(huán)境監(jiān)測的重要對象，大氣顆粒物的危害程度與自身有害組分的含量、顆粒微形貌、粒度大小及所吸附的有害物質(zhì)等物理特性密切相關(guān)。此外，大氣顆粒物除本身是有害物質(zhì)外，還是其他污染物的運載體和反應(yīng)床，因此研究大氣單一顆粒物的物理性質(zhì)和化學成分，對防治重金屬污染，保障人體健康，研究城市大氣污染具有重要意義。
　　 觀察微小顆粒以及測量微小區(qū)域內(nèi)的元素含量，常規(guī)的統(tǒng)計分析方法已不能滿足要求。目前，國內(nèi)外對大氣單顆粒的研究主

2、要通過SEM 一EDX和微探針技術(shù)相結(jié)合的方法對顆粒物的物理、化學特征與組分、形態(tài)分布特征及其和周圍環(huán)境的關(guān)系進行分析，但對各元素定量分析、尤其是對其中的重金屬元素的定量分析很少見。
　　 本論文來源于“863計劃”“海底原位X 射線探針分析系統(tǒng)研制”（2006AA09ZZ19）和“中國地質(zhì)調(diào)查局項目”（1212010706501），將微束微區(qū)X射線熒光探針儀，用于大氣顆粒物的微區(qū)分析，該儀器X 射線亮度高、準直性高，使得儀器靈

3、敏度大大提高。儀器中X 光管產(chǎn)生的熒光焦斑直徑可達34 m μ左右，能夠精確提供樣品微區(qū)內(nèi)顆粒外貌的信息，對樣品內(nèi)多元素進行定量分析。
　　 本論文旨在解決大氣單顆粒中多元素含量的定量分析問題，為環(huán)境監(jiān)測引進一種新測量工具，同時還為野外微分析儀的研制提供參考數(shù)據(jù)。
　　 論文中實驗采用我院自行研制的IED-6000 微束微區(qū)X 射線熒光探針儀。在對熒光強度理論、基本參數(shù)法理論和各個基本參數(shù)的擬合公式進行研究的基礎(chǔ)上，應(yīng)用

4、已開發(fā)的微束微區(qū)X 射線熒光探針儀的基本參數(shù)法定量分析程序，自主配置基準樣品，通過一次熒光強度、二次熒光強度、相對熒光強度、標樣元素熒光強度和各種所需基本參數(shù)的理論計算，對儀器定量分析程序進行標定，實現(xiàn)了對環(huán)境樣品中單顆粒所含的元素進行定量分析。
　　 本文主要針對成都理工大學校園內(nèi)及附近路口大氣單顆粒的無機成分、來源和分布進行了初步研究。一方面從理論的角度，根據(jù)普遍適用的源解析模型對大氣中可吸入顆粒物進行了源解析，首先把著眼點

5、由排放源轉(zhuǎn)到了受污染源影響的某一局部大氣環(huán)境，即受體。通過分析采集的顆粒物樣品推斷顆粒物的來源，然后通過對大氣顆粒物環(huán)境監(jiān)測和顯微分析確定各類污染源對受體貢獻值；另一方面從實驗角度，探索采集和分析大氣中顆粒物的新方法，采用手工方法采集大氣降塵樣品，并將采集到的樣品放到玻璃片上，壓平后，不經(jīng)過任何化學處理，由儀器定量測量樣品顆粒所含主要元素的含量。最后用相關(guān)軟件分析數(shù)據(jù)，繪制了成都理工大學校園內(nèi)及附近路口顆粒中所含元素的相對強度分布圖，揭