TFt-LCD點線缺陷檢測圖像處理算法研究.pdf

1、薄膜晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速，目前已經(jīng)成功取代了CRT顯示器。其中對面板進行缺陷檢測是TFT-LCD生產(chǎn)線上重要的一部分，由于TFT-LCD面板結構復雜，生產(chǎn)流程多，要求無塵的生產(chǎn)環(huán)境等各種因素，不可避免的會產(chǎn)生各種缺陷，在各種缺陷中點線缺陷所占的比例最高，所以研究對點線缺陷的檢測技術具有重要的意義。
　　論文在研究TFT-LCD面板結構及顯示原理的基礎上，針對TFT-LCD面板表面圖像具有重復性的紋理背景的

2、特點，首先研究了抑制紋理背景的算法，通過抑制紋理背景進行重構圖像，最后研究對重構圖中缺陷區(qū)域分割的算法和提取缺陷特征的算法，并對各種算法進行實驗分析。主要對以下幾點進行了研究:
　　(1)研究了TFT-LCD面板的結構、生產(chǎn)流程和顯示原理，對點線缺陷的產(chǎn)生原因進行分析，并對點線缺陷進行了分類，最后列出了常見的點線缺陷，為下面進行缺陷檢測算法研究打下基礎。
　　(2)通過研究缺陷檢測圖像處理的算法，并針對點線缺陷的特點，主要對

3、以下兩種算法進行了研究:一是在頻域中處理的二維傅里葉變換法;二是在時域中處理的奇異值分解法，最后對兩種算法進行對比分析并實驗驗證。
　　(3)提出了結合雙邊濾波的加權模板差影檢測算法。提出的加權模板差影法處理可以消除亮度不均勻的影響，在實際生產(chǎn)中由于相機對焦等問題進行差影處理后可能會有殘余的紋理背景點，針對此問題采用雙邊濾波進行去除。對紋理背景抑制后圖像采用最大熵法分割缺陷區(qū)域，最后對分割的缺陷區(qū)域的特點進行特征提取。