TFT-LCD Mura缺陷自動(dòng)檢測(cè)方法研究.pdf

1、TFT-LCD Mura缺陷是一種常見的不同于常規(guī)缺陷的面缺陷，其具有對(duì)比度低、形狀多樣、亮度不均等特征，常見的人工檢測(cè)方法存在漏檢、錯(cuò)檢等不足。相比之下，依托機(jī)器視覺的Mura缺陷檢測(cè)以其低成本、高產(chǎn)出而備受青睞，目前，針對(duì)這種方法的研究主要集中在如何提高檢測(cè)的精度與準(zhǔn)度。
　　本文通過分析Mura缺陷檢測(cè)中的難點(diǎn)、對(duì)比已有檢測(cè)方法，提出以空間域重構(gòu)背景為基礎(chǔ)，通過差分保留目標(biāo)的檢測(cè)方法，同時(shí)研究檢測(cè)流程中的亮度噪聲改善、缺陷分

2、割等關(guān)鍵技術(shù)。主要工作如下：
　　(1)分離背景、突出Mura缺陷。本文以待檢圖像像素矩陣的奇異值分布情況為基礎(chǔ)，通過矩陣范式導(dǎo)出奇異值與圖像能量的計(jì)算式，借助能量與信息量的仿射，設(shè)計(jì)并推導(dǎo)奇異值與熵值的計(jì)算關(guān)系，進(jìn)而通過最大熵概率分布理論推導(dǎo)背景分量的奇異值分布;在完成初始背景模型重構(gòu)之后，針對(duì)截?cái)嗥娈愔诞a(chǎn)生的重構(gòu)效果偏差，研究以低噪、低損、高亮三大質(zhì)量控制機(jī)制約束的補(bǔ)償因子β對(duì)模型進(jìn)行微調(diào)，進(jìn)一步優(yōu)化背景模型的質(zhì)量，以差分運(yùn)算

3、實(shí)現(xiàn)缺陷背景的有效分離。
　　(2)背景抑制后的缺陷圖像改善研究。經(jīng)背景抑制后的Mura缺陷具有亮度不均且較低的特點(diǎn)，在分割處理之前，需先增強(qiáng)Mura缺陷的“信噪比”。本文通過分析背景抑制后的圖像組成和灰度直方圖，得出噪聲集中分布于灰度零值附近的結(jié)論，設(shè)計(jì)以簡(jiǎn)單、快速的線性灰度變換對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行亮度增強(qiáng);并對(duì)放大的散布尖峰噪聲進(jìn)行形態(tài)學(xué)圖像消噪，通過腐蝕和膨脹的組合運(yùn)算，在保持目標(biāo)區(qū)域亮度的同時(shí)降低噪聲干擾。
　　(3) M

4、ura缺陷分割優(yōu)化?？紤]到理論值與實(shí)際值存在一定差距，Mura缺陷圖像仍會(huì)受到噪聲的污染，本文研究改進(jìn)的C-V模型分割法，以B樣條連續(xù)水平集代替?zhèn)鹘y(tǒng)水平集函數(shù)描述邊界，提升抗噪性;并通過全散度消除差異性度量對(duì)坐標(biāo)系的依賴，降低亮度不均對(duì)分割結(jié)果的影響。
　　最后，根據(jù)研究成果，建立LCD-Mura缺陷自動(dòng)檢測(cè)仿真系統(tǒng)，并在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下，對(duì)樣本進(jìn)行檢測(cè)驗(yàn)證。量化結(jié)果表明，本文設(shè)計(jì)的方法較好的兼顧了檢測(cè)精度與準(zhǔn)度，檢出率可達(dá)96％，相