硅基射頻開關(guān)集成電路設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著無線通信市場的迅速發(fā)展,低成本與高集成度的射頻收發(fā)機需求在不斷增加。為了迎合這種趨勢,互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)由于其優(yōu)越特性而備受關(guān)注。然而,在實現(xiàn)全集成收發(fā)機這個目標(biāo)上,CMOS工藝因其自身缺陷遇到了瓶頸,難以集成大功率器件,如開關(guān)與功率放大器?;诖?,本文采用硅基SOI工藝設(shè)計一款大功率單刀五擲開關(guān),對促進全集成收發(fā)機的實現(xiàn)具有重要意義。
  本文首先介紹了CMOS工藝下的射頻開關(guān)技術(shù),分析當(dāng)前CMOS三阱工藝在設(shè)

2、計開關(guān)電路時的物理局限性,并且加入硅基SOI工藝做為對比,闡述SOI工藝在射頻開關(guān)設(shè)計上的優(yōu)勢地位。
  緊接著,通過分析串并式硅基開關(guān)的功率承載能力瓶頸,采用負(fù)壓偏壓方式控制開關(guān)晶體管關(guān)閉來提高開關(guān)的線性度。負(fù)壓模塊集成于SOI開關(guān)芯片中,由振蕩器、時鐘緩沖器以及負(fù)壓電荷泵三者共同組成。其中的振蕩器部分本文使用的是多諧振蕩器電路,替換了經(jīng)典負(fù)壓模塊中的環(huán)形振蕩器,相比于后者,前者在低頻及低工藝節(jié)點應(yīng)用時具備更小的尺寸以及更好的穩(wěn)

3、定性。
  然后,根據(jù)SOI工藝庫提供的開關(guān)晶體管建立了“導(dǎo)通”與“關(guān)閉”兩種狀態(tài)的等效集總模型,并給出各寄生參數(shù)的提取公式,通過與PDK晶體管的S參數(shù)仿真對比,驗證了等效模型的準(zhǔn)確性以及參數(shù)提取的正確性。等效模型的建立對開關(guān)晶體管尺寸的選取具有指導(dǎo)意義。
  最后,基于等效模型分析設(shè)計開關(guān)電路,并流片測試。制造的SOI開關(guān)芯片面積為1.6×0.6mm2。在頻率0.7~2GHz范圍內(nèi),測試插入損耗小于1.1dB,測試隔離度大

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