版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、環(huán)境污染和能源危機(jī)是二十一世紀(jì)社會(huì)經(jīng)濟(jì)實(shí)現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展的一大挑戰(zhàn)。隨著人口增長(zhǎng)和城市化進(jìn)程的加速,建筑能耗將持續(xù)增長(zhǎng)。低輻射鍍膜玻璃因其能反射具有太陽(yáng)光熱量90%的紅外線(xiàn)和紫外線(xiàn),同時(shí)對(duì)可見(jiàn)光有較高的透過(guò)率等特性,在建筑門(mén)窗中大量使用能極大降低建筑能耗。從膜系結(jié)構(gòu)和材料成分等角度研發(fā)具有高可見(jiàn)光透過(guò)率、高紅外線(xiàn)反射率、使用壽命長(zhǎng)的低輻射薄膜,是當(dāng)前研究的重難點(diǎn)。國(guó)外從上世紀(jì)70年代就已開(kāi)始低輻射薄膜的探索,現(xiàn)已得到廣泛應(yīng)用。而我國(guó)起步較晚
2、,技術(shù)落后,目前普通商用低輻射玻璃的光學(xué)性能較差,耐久性也亟待改善。因此,采用新材料、新工藝得到性能更加優(yōu)越的光學(xué)薄膜,探索新的膜系結(jié)構(gòu),進(jìn)一步提高離線(xiàn)低輻射玻璃的光學(xué)性能和耐腐蝕性能,加速低輻射薄膜在我國(guó)建筑中的應(yīng)用和推廣具有重要意義。
本論文采用磁控濺射法制備了 WAlN/Ag/WAlN單銀低輻射薄膜。首先探索WAlN薄膜的可見(jiàn)光透過(guò)率和紅外反射率,采用單因素變量法研究了磁控濺射工藝參數(shù)對(duì)WAlN介質(zhì)層可見(jiàn)光透過(guò)率的影響,
3、得出實(shí)驗(yàn)室條件制備WAlN薄膜的最佳工藝參數(shù)。結(jié)果表明,最佳參數(shù)制備的WAlN薄膜在可見(jiàn)光范圍內(nèi)透光率達(dá)90%以上,紅外反射率約30.1%,用于低輻射薄膜介質(zhì)層能起到增透減反的作用。同時(shí),SEM表面形貌分析表明薄膜均勻致密,表面缺陷較少,能給Ag膜提供較好的保護(hù)作用。因此,WAlN薄膜具備低輻射介質(zhì)層的性能要求。
接下來(lái),探索功能層 Ag膜的磁控濺射制備工藝。研究了磁控濺射工藝參數(shù)對(duì)Ag膜光電性能的影響,并制備出光電性能優(yōu)異的
4、單層Ag膜。結(jié)果表明,12nm厚的單層Ag膜光電性能最優(yōu),表面電阻7.5Ω/□,在500nm處可見(jiàn)光透過(guò)率最大值為84.2%,人眼最為敏感的550nm處的可見(jiàn)光透過(guò)率為83.3%。
最后,探索了WAlN介質(zhì)層厚度對(duì)復(fù)合膜可見(jiàn)光透過(guò)率和耐腐蝕性能的影響,并制備出綜合性能優(yōu)異的WAlN/Ag/WAlN復(fù)合低輻射薄膜。結(jié)果表明,45nm厚的WAlN薄膜能提高復(fù)合膜的可見(jiàn)光透過(guò)率,并改善復(fù)合膜透光率曲線(xiàn)的對(duì)稱(chēng)性,保證舒適的視覺(jué)效果。同
5、時(shí),浸泡實(shí)驗(yàn)表明45nm厚的WAlN薄膜能給Ag膜提供較好的保護(hù)作用,腐蝕前后可見(jiàn)光透過(guò)率均低于4%,符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求。采用氮化物WAlN做為低輻射薄膜的外介質(zhì)層,解決了氧化物介質(zhì)層在制備過(guò)程中功能層Ag膜的氧化問(wèn)題。本實(shí)驗(yàn)所制備的 WAlN(45nm)/Ag(12nm)/WAlN(45nm)單銀低輻射復(fù)合膜,在波長(zhǎng)為550nm處的可見(jiàn)光透過(guò)率高達(dá)83.98%,紅外反射率為96.5%,標(biāo)準(zhǔn)低輻射率為0.043,浸泡前后可見(jiàn)光透過(guò)率低于4
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 納米Ag-PMMA復(fù)合薄膜的制備及性能研究.pdf
- TaNx-Ag-TaNx低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf
- waln校園無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)畢業(yè)設(shè)計(jì)
- TaAlN-Ag-TaAlN低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf
- NbSiN-Ag-Cu低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf
- TiAIN-Ag-TiAIN低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf
- 從waln安全問(wèn)題談電子證據(jù)的法律效力
- La1-xCaxMnO3-Ag薄膜制備工藝及性能研究.pdf
- Si1-xAlxN-Ag-Ta低輻射薄膜制備及性能研究.pdf
- Ag復(fù)合薄膜的制備及光學(xué)性質(zhì)的研究.pdf
- 基于STM32和WALN數(shù)據(jù)傳輸設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
- 磁控濺射Ti-Ag-(N)薄膜制備及其性能研究.pdf
- ZrN-,x--Ag-ZrN-,x-低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf
- NdFeB薄膜的制備及性能研究.pdf
- IGZO薄膜的制備及性能研究.pdf
- AZO薄膜的制備及性能研究.pdf
- Ag、石墨烯納米流體的制備及性能研究.pdf
- (Ag)-Fe-Ag納米薄膜的制備、微結(jié)構(gòu)和磁特性研究.pdf
- PU-g-PDMAEMA-Ag復(fù)合薄膜的制備及其結(jié)構(gòu)與性能研究.pdf
- Si-NO薄膜的制備及性能研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論