NbSiN-Ag-Cu低輻射薄膜的制備及性能研究.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩51頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、低輻射玻璃光譜選擇性優(yōu)異,在可見光范圍內(nèi)透過(guò)率高,能更好地利用自然光;同時(shí)對(duì)遠(yuǎn)紅外光譜有非常高的反射率,隔熱保溫性能良好,從而達(dá)到節(jié)能減排的效果。低輻射薄膜通常采用金屬銀作為功能層,然而,由于銀原子容易發(fā)生團(tuán)聚,導(dǎo)致薄膜致密性較差,同時(shí)不耐磨且抗腐蝕性能極差,對(duì)低輻射玻璃的光學(xué)性能影響很大。目前主要使用多層膜系來(lái)提高低輻射玻璃的綜合性能,本文采用反應(yīng)磁控濺射的方法制備了性能優(yōu)異的新型低輻射薄膜,系統(tǒng)研究了其制備工藝參數(shù)對(duì)薄膜的可見光透過(guò)

2、率、紅外反射率、表面粗糙度、薄膜電阻、表面形貌以及耐腐蝕性能的影響規(guī)律。
  本實(shí)驗(yàn)以銀靶、銅靶、硅靶以及鈮靶為靶材,氬氣為工作氣體,氮?dú)鉃榉磻?yīng)氣體,在室溫下采用反應(yīng)射頻磁控濺射法在玻璃基片和單晶硅片上沉積鍍膜。運(yùn)用表面輪廓儀、紫外可見分光光度計(jì)(UV-VIS)、四探針電阻儀、傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、雙束聚焦掃面電子顯微鏡等儀器對(duì)薄膜的各項(xiàng)性能進(jìn)行檢測(cè)分析。
  實(shí)驗(yàn)中銅作為種子層主要起潤(rùn)濕基板作用。當(dāng)濺射功率為80W

3、,工作壓強(qiáng)為0.2Pa,氬氣流量為15scc m,靶基間距為60 mm,濺射時(shí)間為10s,薄膜厚度為2 nm時(shí),銀功能層的薄膜電阻由5.2Ω/□降低至4.1Ω/□,表面粗糙度由2.35 nm降低為1.12nm,這主要是因?yàn)殂~種子層促進(jìn)了銀的形核,提高了銀薄膜的致密性和光滑性。氮化硅鈮作為外介質(zhì)層,主要起保護(hù)和增透作用。當(dāng)硅靶功率為100W,鈮靶功率為50W,保持真空室壓強(qiáng)為0.8Pa,氬氣流量為40scc m,氮?dú)饬髁繛?0s cc m

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論