2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、機器設(shè)備在放射性環(huán)境中完成作業(yè)任務(wù)時,表面會受到放射性污染,這些污染會損傷儀器設(shè)備、干擾控制系統(tǒng),而且會對工作人員造成不同程度的放射性損傷,因此,及時清除機器表面的放射性物質(zhì)具有重要意義。可剝離膜法,由于其操作簡單,不產(chǎn)生交叉污染、二次廢物量少,是較為優(yōu)良的設(shè)備表面放射性污染去污方法。目前,可剝離膜的主要類型為合成高分子材料,但存在資源短缺、二次污染、難處理等問題,因此研究開發(fā)新型的可剝離膜材料成為重中之重。改性魔芋葡甘聚糖、淀粉高分子

2、多糖基去污材料,由于其原料來源豐富、可再生、可降解等特性,且具有大量的活性基團及一定的成膜性,為新型可剝離膜材料的研發(fā)提供了新的思路。本文以魔芋葡甘聚糖、淀粉為原料,通過酯化改性和接枝改性,分別制備了疏水性的魔芋葡甘聚糖醋酸酯(KGMA)和淀粉接枝苯乙烯(St)、丙烯酸丁酯(BA)共聚物,以其為成膜主劑制備了魔芋葡甘聚糖基去污溶膠和淀粉基去污溶膠。系統(tǒng)研究了兩種去污材料對陶瓷(CT)、不銹鋼(SS)、聚乙烯(PE)、聚氯乙烯(PVC)基

3、材上模擬 U(VI)污染的去除特性,并對其去除鈾污染的機理進行了探究,最后研究了去污后廢棄材料的燃燒處理的可行性。主要內(nèi)容及結(jié)果如下:
  (1)魔芋葡甘聚糖基去污材料對 U(VI)的去除特性:研究了魔芋葡甘聚糖醋酸酯濃度、U(VI)污染時間、初始污染量、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度、散落灰塵程度對不同基材表面上模擬 U(VI)污染的去除率的影響。結(jié)果表明:對于陶瓷板和不銹鋼板,魔芋葡甘聚糖基去污溶膠的最佳去污濃度是85 g/L,而聚乙烯板

4、和聚氯乙烯板的最佳去污濃度是80 g/L;污染時間、初始污染量、散落灰塵程度的變化對去污率的影響不大,當(dāng)污染時間分別為1~14d時,該去污劑對四種污染板的去污效率均可達到92.5%以上。當(dāng)初始污染量在7.1~35.7Bq/cm2時,魔芋葡甘聚糖基去污溶膠對四種不同材質(zhì)的材料板面上 U(VI)的去污率均在94.3%附近。在灰塵存在的情況下,四種板材的去污效率均能達到94.3%以上。隨著濕度的上升,去污率略有增加。溫度對去污效果影響顯著,隨

5、著溫度的升高,去污率呈明顯的下降趨勢。
  利用傅里葉掃描電鏡分析儀(SEM),X射線色散能光譜儀(EDX)和X射線光電子能譜儀(XPS)現(xiàn)代測試技術(shù)對去除鈾前后的KGMA膜進行表征,探究其對模擬鈾污染的去除機理,結(jié)果表明:KGMA去污材料對 U(VI)的去除是物理吸附,粘附和化學(xué)配位共同作用的結(jié)果,對于U(VI)的化學(xué)去除機理可能為 U(VI)與 KGMA去污溶膠中的氧發(fā)生配位,從而實現(xiàn)對 U(VI)的去除。
  使用熱重

6、紅外聯(lián)用技術(shù)對去污后的魔芋葡甘聚糖基去污膜的后處理進行研究,結(jié)果表明:KGMA去污膜在空氣氣氛中的熱分解失重率為96.07%,高溫時熱分解主要產(chǎn)物是 H2O、CO2和CO,無其他有毒有害物質(zhì)釋放。
  (2)淀粉基去污材料對 U(VI)的去除特性:對于淀粉基去污溶膠100 g/L適合作為陶瓷板的可剝離膜的主劑濃度,90 g/L的濃度為不銹鋼板和聚乙烯板的最佳去污溶膠濃度;隨著污染時間的增加,去污率總體呈下降趨勢,當(dāng)污染時間較短時,

7、去污率下降趨勢較平緩,變化并不明顯,當(dāng)污染時間較長時,去污效果下降幅度較大;但污染時間在10天以內(nèi)時,陶瓷、不銹鋼及聚乙烯板的去除率都能達到90.5%以上;隨著初始污染量的增加,淀粉基去污溶膠對于三種材質(zhì)表面的鈾污染的去除總體呈下降趨勢,當(dāng)初始硝酸雙氧鈾污染量較低時,去除效果較好,所以當(dāng)污染程度較高時,可以選擇多次去污的方式。隨著去污環(huán)境溫度的提升,去污時間與去除效率都呈下降趨向,且時間降低幅度較大,溫度越低其去污效果越好,且35℃以內(nèi)

8、,去污效果都比較理想。
  利用掃描電鏡分析(SEM),X射線色散能光譜分析(EDX)和X射線光電子能譜分析(XPS)等手段,探究淀粉基去污材料的對模擬鈾污染的去除機理,結(jié)果表明:淀粉基去污材料對 U(VI)的去除是物理和化學(xué)共同作用的結(jié)果,且淀粉基去污溶膠對于U(VI)的化學(xué)吸附機理可能為 U(VI)與淀粉基去污溶膠中的氧發(fā)生配位,從而實現(xiàn)對 U(VI)的去除;
  通過熱重紅外聯(lián)用儀對去污后的淀粉基去污膜的后處理進行研究

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