正電子湮沒(méi)多參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)研制.pdf

1、我們開(kāi)發(fā)了數(shù)字化的正電子湮沒(méi)雙多普勒展寬測(cè)量系統(tǒng),并且在這個(gè)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)基礎(chǔ)上,繼續(xù)研制了半數(shù)字化的正電子湮沒(méi)壽命-動(dòng)量聯(lián)合測(cè)量系統(tǒng)的原型.與以往的一些正電子湮沒(méi)雙多普勒展寬測(cè)量系統(tǒng)以及正電子湮沒(méi)壽命-動(dòng)量聯(lián)合測(cè)量系統(tǒng)不同,這兩個(gè)系統(tǒng)從一開(kāi)始就采用了大量的數(shù)字技術(shù),這些技術(shù)使兩個(gè)系統(tǒng),特別是正電子湮沒(méi)雙多普勒展寬測(cè)量系統(tǒng),復(fù)雜程度極大地降低,電子插件數(shù)減少到4個(gè)(包括高壓電源).另一方面,數(shù)字化技術(shù)的發(fā)展使一些離線處理技術(shù)得以實(shí)現(xiàn),這些技

2、術(shù)能夠更有效地利用原始數(shù)據(jù),得到更多的信息.康普頓散射輪廓測(cè)量技術(shù)也是研究材料中電子動(dòng)量分布的常用方法.從實(shí)驗(yàn)的角度來(lái)看,康普頓散射輪廓測(cè)量與雙多普勒展寬測(cè)量、壽命-動(dòng)量關(guān)聯(lián)測(cè)量有著許多共性.它們都需要測(cè)量γ能譜,并且對(duì)能譜有很高的要求.它們的數(shù)據(jù)積累都比較慢,都需要長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量.雖然康普頓輪廓測(cè)量本身并不是正電子湮沒(méi)多參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)的一部分,但是康普頓散射輪廓測(cè)量的實(shí)驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理過(guò)程給多參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)如雙多普勒展寬測(cè)量,壽命-動(dòng)量聯(lián)合測(cè)

3、量有借鑒的作用.本論文共分為五章,第一章和最后一章分別是前言和總結(jié).中間的三章分別討論三套譜儀的實(shí)驗(yàn)、數(shù)據(jù)處理以及在這些譜儀上開(kāi)展的一些工作.第二章主要介紹的是康普頓散射輪廓測(cè)量系統(tǒng).康普頓散射輪廓測(cè)量譜儀是實(shí)驗(yàn)室原有的設(shè)備.第二章重點(diǎn)介紹康普頓輪廓測(cè)量系統(tǒng)的自動(dòng)化改造.另外,也介紹了利用納米材料和聚合物單晶的康普頓輪廓測(cè)量結(jié)果.納米材料的表面會(huì)有一些不同于體內(nèi)的特性,而康普頓輪廓雖然是平均效應(yīng),也可以對(duì)這種特性敏感.而各向異性的研究一

4、直就是康普頓輪廓測(cè)量的優(yōu)點(diǎn),這里介紹的是聚合物單晶的結(jié)果,目前康普頓輪廓對(duì)于這種大分子的各項(xiàng)異性的研究還比較少.第三章主要介紹的是雙多普勒展寬譜測(cè)量系統(tǒng),重點(diǎn)是譜儀的研制,包括譜儀的硬件,軟件,影響性能的因素和改進(jìn),其中第二節(jié)詳細(xì)地介紹了在線的數(shù)值處理和分析.對(duì)于離線數(shù)據(jù)處理也給與一定的篇幅.另外,鑒于目前工作對(duì)于元素鑒別工作的意義,本章用金屬單質(zhì)樣品作為雙多普勒展寬譜的實(shí)例.此外還給出了一些金屬氧化物單晶的測(cè)量結(jié)果和分析,作為研究缺陷