聚合物光激發(fā)放電及其測(cè)量系統(tǒng)的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、聚合物在電氣、電子絕緣中應(yīng)用極為廣泛，但其中的空間電荷誘導(dǎo)的局部電場(chǎng)畸變，將對(duì)絕緣材料的老化和擊穿特性帶來(lái)巨大的影響.空間電荷往往是各類陷阱的俘獲造成的，陷阱的性質(zhì)決定著電荷的存貯和輸運(yùn)。
　　 光激發(fā)放電法(Photo Stimulated Discharge-PSD)與熱刺激電流法(Thermally Stimulated Current-TSC)是研究聚合物材料中陷阱結(jié)構(gòu)及其所控制的空間電荷存貯及輸運(yùn)特性的工具。相比于熱刺

2、激方法，光激發(fā)放電法可以測(cè)量到聚合物中大于3eV的深電荷陷阱。更重要的是，光激發(fā)放電法是一個(gè)等溫測(cè)量過(guò)程，避免了熱刺激方法中因溫度升高致使分子運(yùn)動(dòng)加劇給陷阱造成的熱侵蝕，可以更真實(shí)地表征給定溫度下陷阱的本征特性。因此，光激發(fā)放電法提供了一個(gè)能夠在更寬的能譜范圍內(nèi)更加準(zhǔn)確地測(cè)量陷阱深度的有效手段。
　　 本文分析了光照在聚合物上可能發(fā)生的光電子過(guò)程，對(duì)光激發(fā)放電方法研究聚合物陷阱態(tài)參數(shù)做了較充分的分析，并搭建了以波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器為

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