序貫測試動態(tài)優(yōu)化與多目標優(yōu)化算法研究.pdf

1、由于電子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)日趨復雜，對其性能及狀態(tài)的測試也變得愈加困難，因此，需要在系統(tǒng)設計時就將可測性作為一項指標納入設計范疇。序貫測試問題的目的是生成一組總體測試代價最小的測試序列以識別系統(tǒng)的故障，對減少系統(tǒng)后期維護成本具有現(xiàn)實意義，本文對序貫測試問題進行了深入研究，對不同方面的序貫測試問題提出了解決方法。目前進行可測性輔助設計的軟件較少，且大多都是基于客戶端/服務器架構(gòu)（C/S架構(gòu)），本文使用基于瀏覽器/服務器（B/S架構(gòu)）架構(gòu)對相關功能進

2、行設計與實現(xiàn)。本文主要研究工作如下：
　　1.介紹了序貫測試問題及常用于解決序貫測試問題的 AO*算法，由于 AO*算法的性能主要取決于所選的啟發(fā)函數(shù)，根據(jù)實際需要介紹了兩種不同的啟發(fā)函數(shù)：可求取系統(tǒng)最優(yōu)測試代價的基于霍夫曼編碼的啟發(fā)函數(shù)和用于快速估算系統(tǒng)測試代價的基于信息熵的啟發(fā)函數(shù)，并用兩個實例說明了這兩種啟發(fā)函數(shù)的區(qū)別及各自的使用范圍。
　　2.由于序貫測試的相關參數(shù)在系統(tǒng)實際使用中經(jīng)常發(fā)生改變，本文提出根據(jù)具體發(fā)生的

3、變化對已有的故障診斷樹進行修改的算法，該算法利用了已有信息對原故障診斷樹進行調(diào)整，相對于重新生成新的故障診斷樹的效率要高，且該算法需要判斷是否需要對原故障診斷樹進行調(diào)整，適合在參數(shù)經(jīng)常發(fā)生波動的情況下提高效率。
　　3.首先說明了多目標優(yōu)化問題，并將實際序貫測試問題遇到的多目標問題與經(jīng)典多目標問題相結(jié)合，并介紹一種基于多目標極值的遺傳規(guī)劃優(yōu)化算法來解決這一問題，這種算法在遺傳操作的基礎上增加了分組、分配適應度、擇優(yōu)等操作，在種群進