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文檔簡介
1、目前,磁光材料和器件成為現(xiàn)代通信、航天、雷達、醫(yī)療必不可少的關鍵材料。磁光橢偏技術是近幾年發(fā)展起來的探測磁光材料磁學和光學性質的新技術,它能夠通過探測克爾效應引起的反射光偏振狀態(tài)的改變,給出體材料和納米磁性膜的磁光特性,對研究磁性材料的磁各向異性、磁耦合等具有重要的意義。以磁光橢偏技術為基礎的磁光橢偏儀可以與薄膜生長設備如磁控濺射設備、MBE結合在薄膜生長過程中進行原位測量,為薄膜生長的不同階段提供精確參考,是指導薄膜生長的必備檢測工具
2、。磁光橢偏儀還可為原有磁光薄膜材料進行優(yōu)化升級提供可靠的理論與實驗基礎,為尋找新型的磁光材料提供先進的測量工具。
本論文較為系統(tǒng)的敘述了國內外磁光橢偏技術領域相關的研究成果,對目前應用廣泛的橢偏測量和表面磁光克爾效應測量進行了分析,從理論和實驗兩方面對磁光橢偏技術進行了分析,成功的建設了磁光橢偏實驗平臺,并利用該平臺測量了坡莫合金和納米磁性膜的磁光性質,實驗結果證明該平臺可以達到納米級的測量精度。此外,論文還從理論上分析了
3、體材料及多層薄膜結構的磁光克爾效應,得到了縱向克爾偏轉角的計算公式。論文的創(chuàng)新點如下:
(1)將斬波器、鎖相放大器引入磁光橢偏實驗平臺,利用半導體激光器代替原先的偏振激光器,降低了對激光器的精度要求,利用斬波器中調制盤,將連續(xù)激光變成脈沖激光;斬波器的方波作為鎖相放大器的參考信號,探測器接收到的脈沖信號作為待測信號輸入鎖相放大器中進行數(shù)據計算、存儲。論文對該實驗平臺的可靠性與精確性進行了一系列的實驗,得到了良好的效果。
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